Роял термо революшен биметалл отзывы: Радиатор биметалл Royal Thermo Revolution Bimetall 500 – 8 секц.
Радиатор биметалл Royal Thermo Revolution Bimetall 500 – 8 секц.
код товара: НС-1058967
ABSOLUT BIMETALL
ТЕХНОЛОГИЯ POWERSHIFT
МЕЖОСЕВОЕ РАССТОЯНИЕ
13 м2
ПЛОЩАДЬ ПОМЕЩЕНИЯ до
Написать отзыв
ПрохорМосква
Поменял прошлым летом чугунные батареи на эти, разница очевидна, намного теплее стало. И смотрятся современно.
Виталий
Москва
Стоят эти радиаторы у меня в квартире уже второй год. Не текли. Прогреваются равномерно и быстро. Еще производитель дает гарантию на 15 лет, надеюсь если что, то сразу и без проблем заменят.
Количество секций:
Цвет радиатора:
Вашему вниманию предлагается ознакомиться с отзывами о радиаторе биметалл Royal Thermo Revolution Bimetall 500 – 8 секц.
ТРЕБУЕТСЯ ПОМОЩЬ?
Биметаллические радиаторы Royal Thermo Revolution Bimetall
Основные характеристики оборудования Биметаллические радиаторы Royal Thermo Revolution Bimetall
Материал:
биметаллические
Подключение:
боковое подключение
Конструкция:
секционные
Особые виды радиаторов:
традиционные
Гарантия:
15 лет
Происхождение бренда:
ИталияОценка покупателей:
Стоимость:
от 3 380 до 10 620
Напечатать
Добавить в закладки
Добавить в сравнения
Нужен совет? Позвоните нам!
+7 (812) 401-66-31 (многоканальный) или
+7 (800) 333-56-06 (бесплатный по России)
Цены на оборудование Биметаллические радиаторы Royal Thermo Revolution Bimetall
Информация об оборудовании Биметаллические радиаторы Royal Thermo Revolution Bimetall
Биметаллические радиаторы Royal Thermo Revolution Bimetall — это полностью биметаллические радиаторы с коллектором из высоколегированной стали. Предназначены для использования в центральных и индивидуальных системах отопления. Благодаря применению технологии POWERSHIFT — дополнительным ребрам на коллекторе — имеют высочайшую для биметалла теплоотдачу.
Применение только полностью стальных коллекторов нового поколения ABSOLUTBIMETALL гарантирует надежную работу в системах, подверженных гидроударам и с химически агрессивными теплоносителями (в том числе антифризами).
Технические особенности:
- Возможная комплектация количеством секций — 4, 6, 8, 10, 12
- Опрессовочное давление — 45 бар
- Рабочее давление — 30 бар
- Максимальная температура теплоносителя — 110°С
- Цвет: белый, RAL 9016
{{/if}} {{if IsHit}}Наша компания предлагает широкий ассортимент товаров, который может понадобиться Вам при покупке оборудования биметаллические радиаторы Royal Thermo Revolution Bimetall, значительная часть из которого имеется у нас в наличии:
ХИТ
{{/if}} {{if IsNova}}NEW
{{/if}} {{/if}}${Name}
Товаров ${CountArticul}
bimetallicheskies-bokovym-podklyucheniemsektsionnyeothers-settingroyal-thermoitaliya
Биметаллический радиатор Royal Thermo Revolution Bimetall 500 (12 секций)
Полностью биметаллический радиатор с коллектором из высоколегированной стали. Предназначен для использования в центральных системах отопления. Благодаря применению технологии PowerShift – дополнительным ребрам на коллекторе – имеет высочайшую для биметалла теплоотдачу.
Изготавливается методом литья под давлением из специального алюминиевого сплава. Такой способ производства позволяет получить радиатор повышенной прочности и надежности. Радиатор прослужит в несколько раз дольше по сравнению с аналогичными отопительными приборами.
Особенности модели Revolution
Полностью стальной коллектор нового поколения ABSOLUTBIMETALL®
- Применение только полностью стальных коллекторов гарантирует надежную работу в системах подверженных гидроударам и с химически агрессивными теплоносителями (в том числе антифризами).
Повышенная мощность, технология POWERSHIFT. Патент №122469
- Дополнительное оребрение на вертикальном коллекторе секции увеличивает теплоотдачу радиатора на 5%.
Oxsilan R 9807 – новое поколение экологически чистого покрытия без тяжелых металлов и фосфатов
- Oxsilan ® 9807 наносится на секцию радиатора перед покраской и за счет улучшенной адгезии лакокрасочного покрытия повышает антикоррозийную стойкость и долговечность радиаторов
Сверхстойкая 7-ми этапная NANO покраска TECNOFIRMA®
- Нанесение экологически чистых нано-красок AkzoNobel (Нидерланды) и FreiLacke (Германия) в семь этапов, гарантирует стойкость к механическим повреждениям и обеспечивает долговечность покрытия радиатора в помещениях с повышенной влажностью.
Надежная защита от подделок
- Фирменный алюминиевый знак на каждом радиаторе и заводская маркировка каждой секции надежно защищают радиаторы Royal Thermo от подделок.
Абсолютная гарантия 15 лет
- Высочайшее качество и надежность радиаторов Royal Thermo подтверждены фирменной гарантией 15 лет. Каждый радиатор имеет индивидуальный паспорт и гарантийный талон.
Страховка 1 000 000$
- Беспрецедентный размер страхового покрытия 1 000 000$ на всю продукцию Royal Thermo от ОАО «Ингосстрах» обеспечивает Вашу защиту и спокойствие в течение всего срока службы.
Изготовлено по ГОСТ России
- Изготовлено по ТУ- 4935-002-14713117-2014 в соответствии с ГОСТ 31311-2005.
Биметаллические MOF на основе переходных металлов и катализаторы на их основе для электрохимической реакции выделения кислорода
rsc.org/schema/rscart38″> Реакция выделения кислорода (OER) — критическая электрохимическая реакция при расщеплении воды и перезаряжаемых металл-воздушных батареях. Он играет ключевую роль в достижении высокоэффективного производства чистой энергии и хранения энергии в этих устройствах. Биметаллические MOF на основе переходных металлов (TMB MOF) с двумя разными ионами металлов обладают специфическими синергетическими эффектами, которые могут демонстрировать характеристики OER и стабильность, превосходящие таковые для соответствующих монометаллических MOF для окисления воды.Благодаря разнообразию химического состава и структурного типа, TMB MOF также могут служить в качестве прекурсоров и темплатов для получения углеродных материалов, декорированных частицами сплава, с большой площадью поверхности или металлических соединений, таких как биметаллические сульфиды, фосфиды и гидроксиды с атомарным уровнем смешение гетерометаллических элементов. Эти материалы с активными центрами высокой плотности демонстрируют значительно улучшенную каталитическую активность в реакции окисления воды. Эта статья направлена на обзор последних достижений с TMB MOF и их производными в отношении приложений в качестве электрокатализаторов в OER, включая анализ механизма процесса OER с помощью вычислений DFT и методов in situ или operando .У вас есть доступ к этой статье
Подождите, пока мы загрузим ваш контент… Что-то пошло не так. Попробуйте снова?Произошла ошибка при настройке пользовательского файла cookie
Этот сайт использует файлы cookie для повышения производительности. Если ваш браузер не принимает файлы cookie, вы не можете просматривать этот сайт.
Настройка вашего браузера для приема файлов cookie
Существует множество причин, по которым cookie не может быть установлен правильно. Ниже приведены наиболее частые причины:
- В вашем браузере отключены файлы cookie. Вам необходимо сбросить настройки своего браузера, чтобы он принимал файлы cookie, или чтобы спросить вас, хотите ли вы принимать файлы cookie.
- Ваш браузер спрашивает вас, хотите ли вы принимать файлы cookie, и вы отказались. Чтобы принять файлы cookie с этого сайта, нажмите кнопку «Назад» и примите файлы cookie.
- Ваш браузер не поддерживает файлы cookie. Если вы подозреваете это, попробуйте другой браузер.
- Дата на вашем компьютере в прошлом. Если часы вашего компьютера показывают дату до 1 января 1970 г., браузер автоматически забудет файл cookie. Чтобы исправить это, установите правильное время и дату на своем компьютере.
- Вы установили приложение, которое отслеживает или блокирует установку файлов cookie. Вы должны отключить приложение при входе в систему или проконсультироваться с системным администратором.
Почему этому сайту требуются файлы cookie?
Этот сайт использует файлы cookie для повышения производительности, запоминая, что вы вошли в систему, когда переходите со страницы на страницу. Чтобы предоставить доступ без файлов cookie потребует, чтобы сайт создавал новый сеанс для каждой посещаемой страницы, что замедляет работу системы до неприемлемого уровня.
Что сохраняется в файле cookie?
Этот сайт не хранит ничего, кроме автоматически сгенерированного идентификатора сеанса в cookie; никакая другая информация не фиксируется.
Как правило, в файлах cookie может храниться только информация, которую вы предоставляете, или выбор, который вы делаете при посещении веб-сайта. Например, сайт не может определить ваше имя электронной почты, пока вы не введете его. Разрешение веб-сайту создавать файлы cookie не дает этому или любому другому сайту доступа к остальной части вашего компьютера, и только сайт, который создал файл cookie, может его прочитать.
Обзор достижений в области технологий микро / нано-электромеханических систем на основе микрокристаллических, нанокристаллических и ультрананокристаллических алмазных пленок
Габриэль К.Дж., Бехи Ф., Махадеван Р., Мехрегани М. (1990) Измерения трения и износа на месте в интегрированных поликремниевых механизмах.Актуаторы Sens A: Physical 21: 184–188
Google ученый
Krauss AR, Auciello O, Gruen DM, Jayatissa A, Sumant AV, Tucek J, Mancini DC, Moldovan N, Erdemir A, Ersoy D, Gardos MN, Busmann HG, Meyer EM, Ding MQ (2001) Ультрананокристаллический алмазные тонкие пленки для МЭМС и подвижных механических сборочных устройств. Diam Relat Mater 10: 1952–1961
CAS Google ученый
Luo JK, Fu YQ, Le HR, Williams JA, Spearing SM, Milne WI (2007) МЭМС из алмазного и алмазоподобного углерода.J Micromech Microeng 17: 147–163
Google ученый
Аусиелло О., Сумант А.В. (2010) Обзор состояния науки и технологий ультрананокристаллических алмазных (UNCD ™) пленок и их применения в многофункциональных устройствах. Diam Relat Mater 19: 699–718
CAS Google ученый
Spengen WMV, Puers R, Mertens R, Wolf ID (2003) Низкочастотная электрическая испытательная установка для оценки надежности емкостных радиочастотных МЭМС-переключателей.J Micromech Microeng 13: 604–612
Google ученый
Спиринг С.М., Чен К.С. (1998) Проблемы и возможности трибологии в МЭМС. Б. Бхушан (ред. ) Kluwer Academic Publisher, Нидерланды
Google ученый
Rymuza Z, Kusznierewicz Z, Misiak M, Schrnidt-Szalowski K, Rzanek-Boroch Z, Sentek J (1998) Вопросы и возможности трибологии. Kluwer Academic Publisher, Нидерланды, стр. 579
Google ученый
http: // www.Physorg.com/news/2010-12-worlds-diamond-nanoelectromechanical.html
Sung JC-M, Monteith B, Sung M Эмиттер электронов из аморфного алмаза. www.advanceddiamond.com.
Espinosa HD, Peng B, Moldovan N, Friedmann TA, Xiao X, Mancini DC, Auciello O, Carlisle JA, Zorman CA, Mehregany M (2006) Эластичность, прочность и ударная вязкость монокристаллического карбида кремния, ультрананокристаллический алмаз и тетраэдрический аморфный углерод без водорода.Appl Phys Lett 89: 07311-1-07311–3
Google ученый
Мескинис С. , Копустинскас В., Слапикас К., Тамулявичюс Т., Гуобиене А., Гудайтис Р., Григалюнас В. (2006) В лучевом синтезе алмазоподобных углеродных пленок для приложений наноимпринтной литографии. Тонкие твердые пленки 515: 636–639
CAS Google ученый
Ангус Дж. К., Уилл Х. А., Станко В. С. (1968) Выращивание затравочных кристаллов алмаза путем осаждения из паровой фазы.J Appl Phys 39: 2915–2922
CAS Google ученый
Дерягин Б.В., Федосеев Д.В. (1970) Эпитаксиальный синтез алмаза в метастабильной области. Russ Chem Rev 39: 783–788
Google ученый
Мацумото С., Сато Ю., Камо К., Сетака Н. (1982) Рост алмазных частиц из метан-водородного газа. J Mater Sci 17: 3106–3122. https://doi.org/10.1007/BF01203472
CAS Google ученый
Шендерова О. А., Груен Д.М. (2006) Ультра нанокристаллический алмаз: синтез, свойства и применение.Издательство Уильям Эндрю, Берлингтон (Редакторы глав нескольких авторов)
Google ученый
Айзенберг С., Шабо Р. (1971) Ионно-лучевое осаждение тонких пленок алмазоподобного углерода. J Appl Phys 42: 2953–2958
CAS Google ученый
Холланд Л., Охха С.М. (1978) Инфракрасный прозрачный и аморфный углерод, выращенный под действием ионов в бутановой плазме. Тонкие твердые пленки 48: L19 – L20
Google ученый
Weissmantel C, Bewilogua CK, Schürer C, Breuer K, Zscheile H (1979) Определение характеристик твердых углеродных пленок с помощью спектрометрии потерь энергии электронов.Тонкие сплошные пленки 61: L1 – L4
CAS Google ученый
Weissmantel C, Bewilogua K, Breuer K, Dietrich D, Ebersbach U, Erler HJ, Rau B, Reisse G (1982) Получение и свойства твердых покрытий i-C и i-BN. Тонкие сплошные пленки 96: 31–44
CAS Google ученый
Райли Д.Р. (1944) Постоянная решетки алмаза и одинарной связи C-C. Nature 153: 587–588
CAS Google ученый
Фонг CY, Кляйн Б.М. (1995) Электронные и колебательные свойства объемного алмаза.В: Pan LS, Kania DR (eds) Diamond: электронные свойства и приложения. Издательство Kluwer Academic, Бостон, стр. 1-29
Google ученый
Painter GS, Ellis DE, Lubinsky AR (1971) Ab Initio расчеты электронной структуры и оптических свойств алмаза с использованием метода дискретных вариаций. Phys Rev B 4: 3610–3622
Google ученый
Сахли С. (1997) Электронные характеристики и изготовление пьезорезистивных датчиков давления с CVD-алмазом.Докторская диссертация, Университет штата Мичиган.
Миёси К. (1998) Структура и механические свойства природного и синтетического алмаза, отчет. НАСА, Исследовательский центр Льюиса, Кливленд, Огайо 107249, Глава 8.
Батлер Дж. Э., Виндишманн Х (1998) Развитие синтеза CVD-алмаза за последние десятилетия. MRS Bull 23: 22–27
CAS Google ученый
Prelas MA (ed) (2018) Справочник по промышленным алмазам и алмазным пленкам.Рутледж, Чичестер
Google ученый
Батлер Дж. Э., Сумант А. В. (2008) CVD наноалмазных материалов. Депозиты Chem Vap 14: 145–160
CAS Google ученый
Филип Дж., Хесс П., Фейгельсон Ф., Батлер Дж. Э., Чаттопадхай С., Чен К. Х., Чен Л. К. (2003) Упругие, механические и термические свойства нанокристаллических алмазных пленок. J Appl Phys 93: 2164–2171
CAS Google ученый
Sekaric L, Parpia JM, Craighead HG, Feygelson T, Houston BH, Butler JE (2002) Наномеханические резонансные структуры в наноциклическом алмазе. Appl Phys Lett 81: 4455–4457
CAS Google ученый
Кон Э., Глуче Е.П., Адамщик М. (1999) Алмазные МЭМ — новая развивающаяся технология. Diam Relat Mater 8: 934–940
CAS Google ученый
Guillen FJH, Janischowsky K, Kusterer J, Ebert W, Kohn E (2005) Механические характеристики и инженерия напряжений нанокристаллов. Diam Relat Mater 14: 411–415
Google ученый
Уильямс О.А., Даенен М., Д’Хаен Дж., Хаенен К., Маес Дж., Мощалков В.В., Несладек М., Груен Д.М. (2006) Сравнение роста и свойств ультрананокристаллического алмаза и нанокристаллического алмаза.Материал, связанный с алмазами, 15: 654–658
CAS Google ученый
Naguib N, Birrell J, Elam J, Carlisle JA, Auciello O (2006) Метод выращивания тонких углеродных пленок, полностью состоящих из алмазных зерен размером 3–5 нм и высокоэнергетических границ зерен. Патент США № 7,128,8893,7,556,982.
Маккензи Д.Р., Мюллер Д., Пайлторп Б.А. (1991) Формирование тонкой тетраэдрической аморфной тонкой пленки под действием напряжения сжатия. Phys Rev Lett 67: 773–776
CAS Google ученый
Yik YCK, Deraman K, Kit OW, Shamsuri WNW, Husin R (2014) Тонкие нелегированные алмазоподобные углеродные пленки, выращенные методом химического осаждения из паровой фазы с постоянным током и плазмой: структурные и электрические свойства.Adv Mater Res 970: 136–139
Google ученый
Weiler M, Sattel S, Jung K, Ehrhardt H, Veerasamy VS, Robertson J (1994) Высокотетраэдрический алмазоподобный аморфный гидрогенизированный углерод, полученный из источника плазменного пучка. Appl Phys Lett 64: 2797–2799
CAS Google ученый
Цзо С.С. (2009) Осаждение поликристаллических алмазных пленок CVD с помощью СВЧ-плазмы при более высоких давлениях. Кандидат наук. Диссертация, Университет штата Мичиган.
Феррейра Н.Г., Абрамоф А., Корат Э.Дж., Трава-Аирольди В.Дж. (2003) Остаточное напряжение и кристаллическое качество сильно легированных бором алмазных пленок проанализированы методами микро-рамановской спектроскопии и дифракции рентгеновских лучей. Углерод 41: 1301–1308
CAS Google ученый
Гупта П. (2000) Синтез, структура и свойства нанослойных пленок DLC / DLC. Докторская диссертация, Университет штата Луизиана.
Hu ZG, Prunici P, Hess H, Chen KH (2007) Оптические свойства нанокристаллических алмазных пленок в диапазоне от среднего инфракрасного до ультрафиолетового с использованием рефлектометрии и эллипсометрии. J Mater Sci Mater Electr 18: 37–41
Google ученый
Силлеро Э., Уильямс О.А., Лебедев В., Чималла В., Рёлиг С.С., Небель CR, Калле Ф. (2009) Статическое и динамическое определение механических свойств микроструктур нанокристаллического алмаза. J Micromech Microeng 19: 1–6
Google ученый
Balachandran S, Kusterer J, Maier D, Dipalo M, Weller T, Kohn E (2008) Высокомощный нанокристаллический алмаз RF MEMS — комбинированный взгляд на механические и микроволновые свойства. В: Международная конференция по микроволнам, связи, антеннам и электронным системам, стр. 1–8
Espinosa HD, Prorok BC, Peng B, Kim KH, Moldovan N, Auciello O, Carlisle JA, Gruen DM, Mancini DC (2003 ) Механические свойства тонких ультрананокристаллических алмазных пленок, относящиеся к устройствам MEMS / NEMS.Exp Mech 43: 256–268
CAS Google ученый
Maier F, Riedel M, Mantel B, Ristein J, Ley L (2000) Происхождение поверхностной проводимости в алмазе. Phys Rev Lett 85: 3472–3475
CAS Google ученый
Ristein J, Maier F, Riedel R, Stammer M, Ley L (2001) Эксперименты по поверхностной проводимости алмаза и фотоэлектронная спектроскопия. Diam Relat Mater 10: 416–422
CAS Google ученый
Ristein J, Riedel M, Ley L (2004) Легирование с электрохимическим переносом поверхности.J Electrochem Soc 151: 315–321
Google ученый
Бехраван М. (2005) Электропроводность гетероэпитаксиального алмаза. Докторская диссертация, Университет штата Мичиган.
Холлидей Д., Резник Р., Уокер Дж. (1997) Расширенные основы физики, том 5. Уайли, Хобокен
Google ученый
Пирсон Х.О. (2004) Справочник по углероду, графиту, алмазу и фуллеренам — Свойства Обработка и применение.Уильям Эндрю Паблишинг / Нойес, Вулверхэмптон
Google ученый
Бек С. и Ахмед М. (2004), Алмаз — химически осажденный алмаз из паровой фазы, Azom.
Muto Y, Sugino T, Shirafuji J (1991) Электропроводность в нелегированных алмазных пленках, полученных химическим осаждением из газовой фазы. Appl Phys Lett 59: 843–845
CAS Google ученый
Хуанг Б., Рейнхард Д.К. (1991) Зависимая от электрического поля проводимость тонких пленок поликристаллического алмаза.Appl Phys Lett 59: 1494–1496
CAS Google ученый
Вернер М., Дорш О., Хинце А., Обермайер Е., Хапер Р. Э., Джонстон С., Чалкер П. Р., Бакли-Голдер И. М. (1993) Ток, ограниченный пространственным зарядом, и плотность ловушек в нелегированных алмазных пленках. Diam Relat Mater 13: 825–828
Google ученый
Сугино Т., Муто Й., Ширафуджи Дж., Кобаши К. (1993) Механизмы электропроводности в поликристаллических алмазных пленках, осажденных из паровой фазы.Diam Relat Mater 2: 797–802
CAS Google ученый
Джин С., Мустакас Т.Д. (1993) Исследования электропроводности алмазных пленок, полученных с помощью электронной циклотронной резонансной микроволновой плазмы. Appl Phys Lett 63: 2354–2356
CAS Google ученый
Кулкарни А.К., Шротрия А., Ченг П., Родриго Х., Башьям Р., Кибл Д.Д. (1994) Электрические свойства тонких пленок алмаза, выращенных методом химического осаждения из газовой фазы.Тонкие твердые пленки 253: 141–145
CAS Google ученый
Кулькарни А.К., Тей К., Родриго Х. (1995) Электрические характеристики тонких пленок CVD-алмаза, выращенных на кремниевых подложках. Тонкие твердые пленки 270: 189–193
CAS Google ученый
De Cesare D, Salvatori S, Vincenzoni R, Ascarelli P, Cappelli E, Pinzari F, Galluzzi F (1995) Об электрических свойствах поликристаллических алмазных пленок на кремнии.Diam Relat Mater 4: 628–631
Google ученый
Сикдер А.К., Джейкоб А.П., Шарда Т., Мисра Д.С., Пандей М., Кабирадж Д., Авасти Д.К. (1998) Электропроводность при постоянном токе химически осажденных из паровой фазы алмазных листов: корреляция с содержанием водорода и парамагнитными дефектами. Тонкие твердые пленки 332: 98–102
CAS Google ученый
Wang L, Xia Y, Ju J, Zhang W (2000) Электрические свойства алмазных пленок химического осаждения из паровой фазы и электрический отклик на рентгеновские лучи.Diam Relat Mater 9: 1617–1620
CAS Google ученый
Lee BJ, Ahn BT, Lee JK, Baik YJ (2001) Исследование пути проводимости в нелегированных поликристаллических алмазных пленках. Diam Relat Mater 10: 2174–2177
CAS Google ученый
Су Кью, Лу Дж., Ван Л., Лю Дж., Руан Дж., Цуй Дж., Ши В., Ся И (2005) Электрические свойства [100] -ориентированной алмазной CVD-пленки.Твердотельный электр. 49: 1044–1048
CAS Google ученый
Correa EJ, Wu Y, Wen J, Chandrasekharan R, Shannon M (2007) Электропроводность в нелегированных ультрананокристаллических тонких пленках алмаза и ее зависимость от химического состава и кристаллической структуры. J Appl Phys 102: 113706-1-113706–10
Google ученый
Стонер Б.Р., Гласс Дж. Т., Бергман Л., Неманич Р. Дж., Золтал Л. Д., Вандерсанде Дж. В. (1992) Электропроводность и фотолюминесценция алмазных пленок, выращенных методом химического осаждения из паровой фазы в микроволновой плазме.J Electron Mater 21: 629–634
CAS Google ученый
Смит К.С. (1954) Эффект пьезосопротивления в германии и кремнии. Phys Rev 94: 42–49
CAS Google ученый
Taher I (1994) CVD-алмазные пьезорезистивные микродатчики. Докторская диссертация, Университет штата Мичиган.
Тахер И., Аслам Д.М., Тамор М.А., Поттер Т.Дж., Элдер Р.К. (1994) Пьезорезистивные микросенсоры с использованием алмазных CVD-пленок p-типа.Актуаторы Sens A 45: 35–43
CAS Google ученый
Fang F, Wang WL, Ding PD, Liao KJ, Wang J (1999) Исследование пьезорезистивного эффекта кристаллического и поликристаллического алмаза при одноосной деформации. J Appl Phys 86: 5186–5193
Google ученый
Мандура М.М., Сарасват К.С., Хелмс К.Р., Каминс Т.И. (1980) Сегрегация примеси в поликристаллическом кремнии.JPN Appl Phys 51: 5755–5763
CAS Google ученый
French PJ, Evans AGR (1984) Пьезорезистентность поликремния. Electr Lett 20: 999–1000
CAS Google ученый
Tang Y, Aslam DM, Wang J, Wise KD (2006) Исследование пьезорезистивных датчиков положения из поликристаллического алмаза для применения в датчике кохлеарного имплантата. Diam Relat Mater 15: 199–202
CAS Google ученый
Морриш А.А., Перссон П.Е. (1991) Влияние предварительной обработки поверхности на зарождение и рост алмазных пленок на различных подложках.Appl Phys Lett 59: 417–419
CAS Google ученый
Demuynck L, Arnault JC, Speisser C, Polini R, LeNormand F (1997) Механизмы зарождения и роста CVD-алмаза на механически поцарапанных и чистых поверхностях Si (100). Diam Relat Mater 6: 235–239
CAS Google ученый
Денниг П.А., Шиоми Х., Стивенсон Д.А., Джонсон Н.М. (1992) Влияние обработки подложки на зародышеобразование тонкой пленки алмаза.Тонкие твердые пленки 212: 63–67
CAS Google ученый
Биенк Э.Дж., Эскильдсен С.С. (1993) Влияние подготовки поверхности на зародышеобразование алмаза на кремнии. Diam Relat Mater 2: 432–437
CAS Google ученый
Лаутен Ф.С., Шигесато Ю., Шелдон Б.В. (1994) Зарождение алмаза на нецарапанных подложках SiO 2 . Appl Phys Lett 65: 210–212
CAS Google ученый
Chiang MJ, Hon MH (2001) Положительное зародышеобразование алмаза с усиленным смещением постоянного тока с высокой концентрацией CH 4 .Diam Relat Mater 10: 1470–1476
CAS Google ученый
Ирвин MD, Pantano CG, Gluche PE, Kohn E (1997) Зарождение алмаза на диоксиде кремния с усилением смещения. Письма по прикладной физике 71: 716–718.
Google ученый
Масуд А., Аслам Д.М., Тамор М.А., Поттер Т.Дж. (1991) Методы нанесения рисунка на CVD-алмазные пленки на неалмазных подложках. J Electrochem Soc 138: L67 – L68
CAS Google ученый
Ян Г.С., Аслам Д.М., Куо К.П., Рейнхард Д.К., Асмуссен Дж. (1995) Влияние сверхвысокой плотности зародышеобразования на рост алмаза при различных скоростях роста и температурах.J Vac Sci Technol, B 13: 1030–1036
CAS Google ученый
Мальше А.П., Бира Р.А., Канолкар А.А., Браун В.Д., Насим Х.А. (1997) Первоначальные результаты нового метода посева перед осаждением для достижения сверхвысокой плотности зародышеобразования для выращивания CVD-алмаза. Diam Relat Mater 6: 430–434
CAS Google ученый
Tang Y (2006) Технология поликристаллического алмаза (PCD) и применение пьезорезистивного датчика для кохлеарного протеза.Докторская диссертация, Университет штата Мичиган.
Бахманн П.К., Леерс Д., Лидтин Х. (1991) К общей концепции химического осаждения алмаза из паровой фазы. Diam Relat Mater 1: 1–12
CAS Google ученый
Харрис С., Мартин Л.Р. (1990) Метил против ацетилена как разновидности роста алмаза. J Mater Res 5: 2313–2319
CAS Google ученый
Спицын Б.В., Попович Г., Прелас М.А. (1993) Проблемы легирования алмазных пленок.В: Yoshikawa M, Murakawa M, Tzeng Y, Yarbrough WA (ред.) 2-я Международная конференция по применению алмазных пленок и родственных материалов. Токио, стр. 57–64.
Gildneblat GSH, Grot SA, Badzian A (1991) Электрические свойства и применение в устройствах гомоэпитаксиальных и поликристаллических алмазных пленок. Proc IEEE 79: 647–667
Google ученый
Сахли С., Аслам Д.М. (1996) Влияние отжига после осаждения на удельное сопротивление поликристаллических алмазных пленок p-типа.Appl Phys Lett 69: 2051–2052
CAS Google ученый
Zhang X, Guo J, Yao Y (1992) Легирование бором алмазных пленок путем испарения B 2 O 3 . Физический статус Solidi A 133: 377–383
CAS Google ученый
Руан Дж., Кобаши К., Чойк В.Дж. (1992) Влияние кислорода на легирование бором при химическом осаждении алмаза из паровой фазы, как установлено на основе исследований катодолюминесценции.Appl Phys Lett 60: 1884–1886
CAS Google ученый
Такада Т., Фукунага Т., Хаяши К., Йокота Ю., Тачибана Т., Мията К. и др. (2000) Тонкопленочный сенсор из легированного бором алмаза для обнаружения различных газов производства полупроводников. Датчики Актуаторы A Phys 82: 97–101
CAS Google ученый
Cifre J, Puigdollers J, Polo C, Esteve J (1994) Легирование триметилбором тонких пленок CVD-алмаза.Diam Relat Mater 3: 628–631
CAS Google ученый
Prins JF (1992) Ионная имплантация и алмаз — некоторые недавние результаты по выращиванию и допированию. Тонкие твердые пленки 212: 11–18
CAS Google ученый
Prins JF (2002) Имплантационное легирование алмаза ионами B +, C +, N + и O + с использованием низкотемпературного отжига. Diam Relat Mater 11: 612–617
CAS Google ученый
Калиш Р. (1997) Ионная имплантация в алмазные и алмазные пленки: легирование, эффекты повреждения и их применения.Appl Surf Sci 117: 558–569
Google ученый
Borst TH, Weis O (1996) Гомоэпитаксиальные алмазные слои, легированные бором: изготовление, определение характеристик и электронные приложения. Физический статус Solidi A 154: 423–444
CAS Google ученый
Кон Э., Эберт В., Алексов А., Адамщик М., Шмид П. (2002) Алмазная технология для электроники и обзор состояния и перспектив МЭМС.В: 23-я Международная конференция по микроэлектронике, том 1, стр. 59–66.
Чренко Р.М. (1973) Бор, доминирующий акцептор в полупроводниковом алмазе. Phys Rev B 7: 4560–4567
CAS Google ученый
Вернер М., Джоб Р., Зайцев А., Фарнер В. Р., Зейферт В., Джонсон С., Чалкер П. Р. (1996) Взаимосвязь между удельным сопротивлением и концентрацией легирования бором моно- и поликристаллического алмаза. Физический статус Solidi A 154: 385–393
CAS Google ученый
Borst TH, Weis O (1995) Электрические характеристики гомоэпитаксиальных алмазных пленок, легированных B, P и Na во время роста кристаллов.Diam Relat Mater 4: 948–953
CAS Google ученый
Мальше А.П., Парк Б.С., Браун В.Д., Насим Х.А. (1999) Обзор методов полировки и планаризации алмазных пленок и подложек, осажденных химически из паровой фазы (CVD). Diam Relat Mater 8: 1198–1213
CAS Google ученый
Охаши Х., Исигуро Э., Сасано Т., Шобатаке К. (1996) Травление алмаза с возбуждением синхротронным излучением.Appl Phys Lett 68: 3713–3715
CAS Google ученый
Массод А., Аслам Д.М., Тамор М.А., Поттер Т.Дж. (1991) Методы нанесения рисунка на CVD-алмазные пленки на неалмазной подложке. J Electrochem Soc 138: L67-68
Google ученый
Roppel R, Ramesham R, Lee SY (1992) Тонкопленочные алмазные микроструктуры. Тонкие твердые пленки 212: 56–62
CAS Google ученый
Дэвидсон Дж. Л., Эллис С., Рамешем Р. (1990) Селективное осаждение алмазных пленок.Новый алмаз 6: 29–32
Google ученый
Иноуэ Т., Татибана Т., Кумагаи К., Мията К., Нисимура К., Кобаши К., Накауэ А. (1990) Нанесение алмазных пленок на выбранную площадь. J Appl Phys 67: 7329–7336
CAS Google ученый
Хирабаяси К., Танигучи Ю., Такамацу О., Икеда Т., Икома К., Курихара Н.И. (1988) Селективное осаждение кристаллов алмаза химическим осаждением из газовой фазы с использованием метода вольфрамовой нити.Appl Phys Lett 53: 1815–1817
CAS Google ученый
Шиоми Х., Накахата Х., Имаи Т., Нисибаяси Ю., Фудзимори Н. (1989) Электрические характеристики металлических контактов с эпитаксиальными пленками из легированного бором алмаза. Jpn J Appl Phys 28: 758–862
CAS Google ученый
Грот С.А., Гилденблат Г.С., Вронски К.В., Бадзян А.Р., Бадзиан Т., Мессье Р. (1990) Влияние обработки поверхности на электрические свойства металлических контактов с гомоэпитаксиальной алмазной пленкой, легированной бором.IEEE Electron Device Lett 11: 100–102
CAS Google ученый
Наканиши Дж., Оцуки А., Оку Т. (1994) Формирование омических контактов с алмазом p-типа с использованием карбидообразующих металлов. J Appl Phys 76: 2293–2298
CAS Google ученый
Вернер М., Джонсон С., Чалкер П.Р., Романи С., Бакли-Голдер И.М. (1996) Электрические характеристики омических контактов Al / Si с сильно легированными бором поликристаллическими алмазными пленками.J Appl Phys 79: 2535–2541
CAS Google ученый
Tachibana T, Glass J (1995) Электрические контакты к алмазу. В: Pan LS, Kania DR (eds) Diamond: электронные свойства и приложения. Kluwer Academic Publishers, Norwell
Google ученый
Huang W, Chow TP, Yang J, Butler JE (2005) Высоковольтные алмазные вертикальные выпрямители Шоттки. В кн .: Материалы 17-го международного симпозиума по силовым полупроводниковым приборам и ИС.
Вернер М., Дорш О., Бэрвинд Х.У., Обермайер Э., Джонстон С., Чалкер П. Р., Романи Р. (1995) Влияние металлизации на сопротивление омического контакта с сильно легированными В-поликристаллическими алмазными пленками. IEEE Trans Electron Dev 42: 1344–2135
CAS Google ученый
Waytena GL, Hoff HA (1995) Использование системы двойной маски для предотвращения диффузии Ti из омического контакта Ti / Pt / Au на алмазе. J Electrochem Soc 143: 2392–2395
Google ученый
Chen Y, Ogura M, Yamasaki S, Okushi H (2005) Омический контакт на гомоэпитаксиальном алмазе p-типа и их термическая стабильность.Semicond Sci Technol 20: 860–863
CAS Google ученый
Hoff HA, Waytena GL, Vold CL, Suehle JS, Issacson IP, Rebbert ML, Ma DI, Harris K (1996) Омические контакты к полупроводниковому алмазу с использованием схемы трехслойной металлизации Ti / Pt / Au. Diam Relat Mater 5: 1450–1456
CAS Google ученый
Ивасаки Т., Окано К., Мацумаэ Й., Мацусима Е., Маэкава Х., Киёта Х, Куросу Т., Лида М. (1993) Формирование омических контактов на полупроводниковом алмазе, выращенном методом химического осаждения из газовой фазы.Diam Relat Mater 3: 30–34
Google ученый
Venkatesan V, Malta DM, Das K, Belu AM (1993) Оценка омических контактов, образованных имплантацией B + и металлизацией Ti-Au на алмазе. J Appl Phys 74: 1179–1187
CAS Google ученый
Tang Y, Aslam DM (2006) Формирование низкоомного контакта между титаном и слаболегированным поликристаллическим алмазом с использованием высоколегированного промежуточного слоя.Diam Relat Mater 15: 1958–1961
CAS Google ученый
Вернер М. (2003) Алмазная металлизация для устройств. Semicond Sci Technol 18: 41–46
Google ученый
Мори Й., Каварада Х., Хираки А. (1991) Свойства границ раздела металл-алмаз и эффекты кислорода, адсорбированного на поверхности алмаза. Appl Phys Lett 58: 940–941
CAS Google ученый
Бауман П.К., Неманич Р.Дж. (1998) Сродство к электрону и высота барьера Шоттки на границах раздела металл-алмаз (100), (111) и (110).J Appl Phys 83: 2072–2082
CAS Google ученый
Efremow NN, Geis MW, Flanders DC (1985) Ионно-лучевое травление алмаза. J Vac Sci Technol B3 (1): 416–418
Google ученый
Leech PW, Ривз Г.К., Холланд А.С., Шанкс Ф. (2002) Ионно-лучевое травление алмазной пленки CVD в газовых смесях Ar, Ar / O 2 и Ar / CF 4 . Diam Relat Mater 11: 833–836
CAS Google ученый
Sandhu GS, Chu WK (1989) Реактивное ионное травление алмаза.Appl Phys Lett 55: 437–438
CAS Google ученый
Дорш О., Вернер М., Обермайер Э. (1995) Сухое травление нелегированных и легированных бором поликристаллических алмазных пленок. Diam Relat Mater 4: 456–459
CAS Google ученый
Vivensang C, Ferlazzo-Manin L, Ravet MF (1996) Сглаживание поверхности алмазных мембран с помощью процесса реактивного ионного травления. Diam Relat Mater 5: 840–844
CAS Google ученый
Gopi MR, Sirineni NHA, Malshe AP, Brown WD (1997) Реактивное ионное травление алмаза как средство повышения эффективности механической полировки с химическим воздействием.Diam Relat Mater 6: 952–958
Google ученый
Shiomi H (1997) Реактивное ионное травление алмаза в плазме O 2 и CF 4 и изготовление пористого алмаза для катодов полевого эмиттера. Jpn J Appl Phys 36: 7745–7748
CAS Google ученый
Байк Е.С., Байк Ю.Дж. (2000) Выровненные алмазные нановискеры. J Mater Res 15: 923–926
CAS Google ученый
Байк Е.С., Байк Ю.Дж., Ли С.В., Чон Д. (2000) Изготовление алмазных нано-усов.Тонкие твердые пленки 377–378: 295–298
Google ученый
Байк Е.С., Байк Ю.Дж., Чон Д. (2000) Управление геометрией алмазного микронаконечника для полевого эмиттера. Тонкие твердые пленки 377–378: 299–302
Google ученый
Shibata T, Kitamoto Y, Unno K, Makino E (2000) Микрообработка алмазной пленки для приложений MEMS. J Microelectromech Syst 9 (1): 47–51
CAS Google ученый
Otterbach R, Hilleringmann U, Goser K (2000) Реактивное ионное травление CVD-алмаза для сенсорных устройств с размером элемента Al 100 нм.Ind Electr Soc Conf 3: 1873–1877
Google ученый
Nishibayashi Y, Ando Y, Saito H, Imai T., Hirao T, Oura K (2001) Анизотропное травление тонкого столбика на монокристаллическом алмазе. Diam Relat Mater 10: 1732–1735
CAS Google ученый
Leech PW, Reeves GK, Holland A (2001) Реактивное ионное травление алмаза в CF 4 , O 2 , O 2 и смесях на основе Ar.J Mater Sci 36 (14): 3453–3459. https://doi.org/10.1023/A:1017964129419
CAS Google ученый
Fu Y, Du H, Miao J (2003) Создание рисунка алмазных микроструктур на подложке Si путем объемной и поверхностной микрообработки. J Mater Process Technol 132: 73–81
CAS Google ученый
Wang X, Hong GD, Zhang J, Lin BL, Gong HQ, Wang WY (2002) Точное моделирование алмазных пленок для приложений MEMS.J Mater Process Technol 127: 230–233
CAS Google ученый
Ando Y, Nishibayashi Y, Kobashi K, Hirao T, Oura K (2002) Гладкое и высокоскоростное реактивное ионное травление алмаза. Diam Relat Mater 11: 824–827
CAS Google ученый
Ando Y, Nishibayashi Y, Sawabe A (2004) Наностержни монокристаллического алмаза. Diam Relat Mater 13: 633–637
CAS Google ученый
Li CY, Hatta A (2006) Влияние металлического покрытия на образование алмазных усов в плазме O 2 RF.Diam Relat Mater 15: 357–360
CAS Google ученый
Ding G, Mao H, Cai Y, Zhang Y, Yao X, Zhao XL (2005) Микрообработка CVD-алмаза RIE для приложений MEMS. Diam Relat Mater 14: 1543–1548
CAS Google ученый
Li CY, Hatta A (2005) Получение алмазных усов с использованием Ar, O 2 плазменное травление. Diam Relat Mater 14: 1780–1783
CAS Google ученый
Li CY, Hatta A (2007) Формирование нано-усов с помощью радиочастоты Ar / O 2 плазменное травление алмазных пленок с алюминиевым покрытием.Тонкие проданные пленки 515: 4172–4176
CAS Google ученый
Stoikou MD, John P, Wilson JI (2008) Необычная морфология поверхности CVD-алмаза после RIE. Diam Relat Mater 17: 1164–1168
CAS Google ученый
Grot S, Gildenblat G, Badzian A (1992) Тонкопленочные алмазные полевые транзисторы с утопленным затвором, изготовленные методом электронного циклотронного резонансного плазменного травления.IEEE Electron Device Lett 13: 462–464
CAS Google ученый
Pearton SJ, Katz A, Ren F, Lothian JR (1992) ЭЦР плазменное травление химически осажденных из паровой фазы тонких пленок алмаза. Electr Lett 28: 822–824
CAS Google ученый
Грот С.А., Дитизио Р.А., Гилденблат Г.С., Бадзиан А.Р., Фонаш С.Дж. (1992) Электронно-циклотронное резонансное травление полупроводниковых гомоэпитаксиальных алмазных пленок на основе кислорода.Appl Phys Lett 61: 2326–2328
CAS Google ученый
Киахара С., Яги Ю., Мори К.И. (1999) Плазменное травление CVD-алмазных пленок с использованием источника кислорода ЭЦР. Нанотехнологии 10: 385–388
Google ученый
Bernard M, Deneuville A, Lagarde T, Treboux E, Pelletier J, Muret P, Casanova N, Gheeraert E (2002) Травление легированного нанокристаллического алмаза p- и n-типа с использованием источника кислородной плазмы ECR.Diam Relat Mater 11: 828–832
CAS Google ученый
Бернар М., Деневиль А., Ортега Л., Аяди К., Мюре П. (2004) Электронно-циклотронное резонансное кислородное плазменное травление алмаза. Diam Relat Mater 13: 287–291
CAS Google ученый
Тран Д.Т., Гротджон Т.А., Рейнхард Д.К., Асмуссен Дж. (2008) Травление алмаза с помощью микроволновой плазмы. Diam Relat Mater 17: 717–721
CAS Google ученый
Хван Д.С., Сайто Т., Фухимори Н. (2004) Новый процесс травления для изготовления устройств с использованием алмаза.Diam Relat Mater 13: 2207–2210
CAS Google ученый
Энлунд Дж., Исберг Дж., Карлссон М., Николаев Ф., Олссон Дж., Твитчен Д. (2005) Анизотропное сухое травление монокристаллического CVD-алмаза, легированного бором. Углерод 43: 1839–1842
CAS Google ученый
Ямада Т., Йошикава Х., Уэцука Х., Кумарагурубаран С., Токуда Х., Шиката С. (2007) Цикл двухэтапного процесса травления с использованием ICP для алмазных МЭМС-приложений.Diam Relat Mater 16: 996–999
CAS Google ученый
Uetsuka H, Yamada T, Shikata S (2008) ICP травление поликристаллических алмазов: изготовление алмазных наноразмеров для кантилеверов AFM. Diam Relat Mater 17: 728–731
CAS Google ученый
Chapman B (1980) Процессы тлеющего разряда. Wiley, New York, p P38
. Google ученый
Цао З., Аслам Д.М. (2008) Технология изготовления одноматериальных МЭМС с использованием поликристаллического алмаза.Diam Relat Mater 19: 1263–1272
Google ученый
Виндишманн Х., Гленн Эппс Ф., Конг Й., Коллинз Р.В. (1991) Внутреннее напряжение в алмазных пленках, полученных методом микроволнового плазменного химического осаждения из паровой фазы. J Appl Phys 69: 2231–2237
CAS Google ученый
Chiu C, Liou Y, Juang Y (1995) Модуль упругости и остаточные напряжения в алмазных пленках. Тонкие твердые пленки 260: 118–123
CAS Google ученый
Ким Дж., Ю Дж. (1998) Сравнительное исследование методов измерения остаточных напряжений на алмазных пленках, полученных методом химического осаждения из газовой фазы.Scripta Mater 39: 807–814
CAS Google ученый
Jeong JH, Kwon D, Lee WS, Baik YJ (2001) Собственное напряжение в алмазных пленках, осажденных из газовой фазы: аналитическая модель пластической деформации подложки Si. J Appl Phys 90: 1227–1236
CAS Google ученый
Шелдон Б.В., Лау К.Х., Раджамани А. (2001) Собственное напряжение, островковая коалесценция и шероховатость поверхности во время роста поликристаллических пленок.J Appl Phys 90: 5097–5103
CAS Google ученый
Kuo CT, Lin CR, Lien HM (1996) Истоки остаточного напряжения в алмазных пленках CVD. Тонкие твердые пленки 290–291: 254–259
Google ученый
Durand O, Bisaro R, Brierley CJ, Galtier P, Kennedy GR, Krüger JK, Olivier J (2000) Остаточные напряжения в свободных алмазных пленках химического осаждения из газовой фазы с помощью рентгеноструктурного анализа.Mater Sci Eng A 228: 217–222
Google ученый
Феррейра Н.Г., Абрамоф Э., Корат Э.Дж., Лейте Н.Ф., Трава-Аирольди В.Дж. (2001) Исследование напряжений алмазных пленок HFCVD, легированных бором, с помощью измерений дифракции рентгеновских лучей. Diam Relat Mater 10: 750–754
CAS Google ученый
Феррейра Н.Г., Абрамоф Э., Лейте Н.Ф., Корат Э.Дж., Трава-Аирольди В.Дж. (2002) Анализ остаточных напряжений в алмазной пленке с помощью дифракции рентгеновских лучей и микро-рамановской спектроскопии.J Appl Phys 91: 2466–2472
CAS Google ученый
Fu Y, Du H, Sun CQ (2003) Межфазная структура, остаточное напряжение и адгезия алмазных покрытий, нанесенных на титан. Тонкие твердые пленки 424: 107–114
CAS Google ученый
Феррейра Н.Г., Абрамоф Э., Корат Э.Дж., Трава-Аирольди В.Дж. (2003) Остаточные напряжения и кристаллическое качество сильно легированных бором алмазных пленок проанализированы методами микро-рамановской спектроскопии и дифракции рентгеновских лучей.Углерод 41: 1301–1308
CAS Google ученый
Чоудхури С., Лаугье М.Т., Генри Дж. (2007) Анализ напряжений XRD для CVD-алмазных покрытий на подложках SiC. Int J Refract Metal Hard Mater 25: 39–45
CAS Google ученый
Мао В., Чжу Х., Чен Л., Фэн Х. (2008) Связь между текстурой и остаточной макродеформацией в алмазных пленках CVD на основе феноменологического анализа.Журнал Университета науки и технологий, Пекин, 15: 197–201
CAS Google ученый
Лю Т., Пинто Х., Брито П., Сэйлз Л.А., Раабе Д. (2009) Анализ остаточных напряжений в алмазных пленках химического осаждения из паровой фазы. Appl Phys Lett 94: 201902
Google ученый
Ван В.Л., Поло М.К., Санчес Дж., Сифре Дж., Эстев Дж. (1996) Внутреннее напряжение и деформация в сильно легированных бором алмазных пленках, выращенных с помощью микроволновой плазмы и химического осаждения из газовой фазы горячей нитью.J Appl Phys 80: 1846–1850
CAS Google ученый
Haouni A, Mermoux M, Marcus B, Abello L, Lucazeau G (1999) Конфокальное рамановское изображение для анализа CVD-алмазных пленок. Diam Relat Mater 8: 657–662
CAS Google ученый
Chen KH, Lai YL, Lin JC, Song KJ, Chen LC, Huang CY (1995) Micro-Raman для анализа напряжений алмазной пленки. Diam Relat Mater 4: 460–463
CAS Google ученый
Michler J, Mermoux M, von Kaenel Y, Haouni A, Lucazeau G, Blank E (1999) Остаточное напряжение в алмазных пленках: происхождение и моделирование.Тонкие твердые пленки 357: 189–201
CAS Google ученый
Fan QH, Grácio J, Pereira E (2000) Оценка остаточных напряжений в алмазных пленках, нанесенных химическим осаждением из паровой фазы. J Appl Phys 87: 2880–2884
CAS Google ученый
Fan QH, Grácio J, Pereira E (2000) Остаточные напряжения в алмазных пленках, осажденных из газовой фазы. Diam Relat Mater 9: 1739–1743
CAS Google ученый
Стюарт С.А., Правер С., Вайзер П.С. (1993) Зависимость от сектора роста найденной структуры в рамановской линии алмаза первого порядка из больших изолированных кристаллов алмаза, осажденных из газовой фазы.Appl Phys Lett 62: 1227–1279
CAS Google ученый
Кэтледж С.А., Борхам Дж., Вохра Ю.К., Ласфилд В.Р., Лемонс Дж.Э. (2002) Исследования твердости и адгезии наноструктурированных алмазных пленок, осажденных из паровой фазы. J Appl Phys 91: 5347–5352
CAS Google ученый
Toprani N, Catledge SA, Vohra YK, Thompson R (2000) Межфазная адгезия и прочность наноструктурированных алмазных покрытий.J Mater Res 15: 1052–1055
CAS Google ученый
Fu Y, Yan B, Loh NL (2000) Влияние предварительной обработки и прослоек на зарождение и рост алмазных покрытий на титановых подложках. Surf Coat Technol 30: 173–185
Google ученый
Райт Дж. К., Уильямсон Р. Л., Мэггс К. Дж. (1994) Конечноэлементный анализ эффективности прослоек в снижении термических остаточных напряжений в алмазных пленках.Mater Sci Technol 187: 87–96
Google ученый
Bruton E (1970) Бриллианты. NAG, Лондон
Google ученый
Йошикава М. (1990) Разработка и эксплуатация устройства для полировки алмазной пленки горячими металлами. Proc SPIE Diamond Opt 3: 1325
Google ученый
Raju GS (1994) Механическая полировка и выравнивание с помощью химикатов алмазных подложек CVD для нанесения MCM.M.S.E.E. Диссертация, Библиотека Университета Арканзаса, Фейетвилл, Арканзас
Озкан А.П., Малше А.П., Браун В.Д. (1997) Последовательная полировка с помощью нескольких лазеров отдельно стоящих подложек из CVD-алмаза. Diam Relat Mater 6: 1789–1798
CAS Google ученый
Хирата А., Токура Х., Йошигава М. (1992) Сглаживание химически осажденных из паровой фазы алмазных пленок облучением ионным пучком. Тонкие твердые пленки 212: 43–48
CAS Google ученый
Санду Г.С., Чу В.К. (1989) Реактивное ионное травление алмаза.Appl Phys Lett 55 (5): 437–438
Google ученый
Хариш М., Ботель Д.М. (1992) Протоколы SPIE. Diamond Opt 3: 1759
Google ученый
Feng Z, Tzeng Y, Field JE (1992) Удар твердых частиц алмазных пленок CVD. Тонкие твердые пленки 212: 35–42
CAS Google ученый
Мальше А.П., Браун В.Д., Насим Х.А., Шапер И.В. (1995) Способы планаризации поликристаллических алмазов, планаризованный поликристаллический алмаз и изделия из них.Патент США 5,472,370.
Сепульведа Н. (2005) Технология и характеристика поликристаллических алмазных РЧ-МЭМС-резонаторов. Докторская диссертация, Университет штата Мичиган.
Бенедик Ф., Ассуар М.Б., Мохассеб Ф., Эльмазрия О., Алнот П., Гиккель А. (2004) Устройства на основе поверхностных акустических волн на основе нанокристаллического алмаза и нитрида алюминия. Diam Relat Mater 13: 347–353
Google ученый
Кирш П., Ассур М.Б., Эльмазрия О., Мортет В., Алнот П. (2006) Устройства на поверхностных акустических волнах с частотой 5 ГГц на основе слоистой структуры нитрида алюминия / алмаза, реализованной с помощью электронно-лучевой литографии.Appl Phys Lett 88: 223504-1-223504–3
Google ученый
Эльмазрия О., Бенедик Ф., Хакики М.Э., Мубчир Х., Ассуар М.Б., Сильва Ф. (2006) Нанокристаллические алмазные пленки для устройств с поверхностными акустическими волнами. Diam Relat Mater 15: 193–198
CAS Google ученый
Bénédic F, Assouar MB, Kirsch P, Monéger D, Brinza O, Elmazria O, Alnot P, Gicquel A (2008) Очень высокочастотные устройства на ПАВ на основе нанокристаллического алмаза и слоистой структуры нитрида алюминия, достигаемой с помощью электронного луча литография.Diam Relat Mater 17: 804–808
Google ученый
Seo SH, Shin WC, Park JS (2002) Новый метод изготовления многослойных слоев ZnO / алмаз / Si для устройств на поверхностных акустических волнах (SAW). Тонкие твердые пленки 416: 190–196
CAS Google ученый
Ламара Т., Белмахи М., Эльмазрия О., Бризуаль Л.Л., Бугдира Дж., Реми М., Алнот П. (2004) Отдельно стоящий CVD-алмаз, полученный с помощью импульсной микроволновой плазмы для устройств ZnO / Diamond SAW.Diam Relat Mater 13: 581–584
CAS Google ученый
Shih WC, Wang MJ, Lin LN (2008) Характеристики тонкопленочных устройств для поверхностных акустических волн из ZnO, изготовленных с использованием нанокристаллической алмазной пленки на кремниевых подложках. Diam Relat Mater 17: 390–395
CAS Google ученый
Uemura T, Fujii S, Kitabayashi H, Itakura K, Hachigo A, Nakahata H, Shikata S, Ishibashi K, Imai T (2002) Устройства поверхностных акустических волн с низкими потерями на основе мелкозернистого поликристаллического алмаза .JPN J Appl Phys 41: 3476–3479
CAS Google ученый
Аслам Д.М., Тахер И., Масуд А. (1992) Пьезорезистивность в осажденных из паровой фазы алмазных пленках. Appl Phys Lett 60: 2923–2925
CAS Google ученый
Wur DR, Davidson JL (1993) Пьезорезистивность поликристаллических алмазных пленок. Mater Res Soc Symp Proc 283: 879
CAS Google ученый
Dorsch O, Holzner K, Werner M, Obermeier E, Harper RE, Johnston C, Chalker PR, Buckley-Golder IM (1993) Пьезорезистивный эффект в тонких пленках алмаза, легированного бором.Diam Relat Mater 2: 1096–1099
CAS Google ученый
Ванлу В., Кеджун Л. (1994) Пьезрезистивный эффект алмазных пленок, полученных с помощью плазменного CVD на постоянном токе. Chin Phys Lett 11: 589–592
Google ученый
Дегучи М., Хасе Н., Китабатаке М., Котера Х, Шима С., Сакакима Х. (1996) Пьезорезистивные свойства CVD-алмазных пленок p-типа. Diam Films Technol 6:77
CAS Google ученый
Дегучи М., Китабатаке М., Хирао Т. (1996) Пьезорезистивные свойства химически осажденных из паровой фазы алмазных тензодатчиков p-типа, изготовленных на мембранной конструкции.Diam Relat Mater 5: 728–731
CAS Google ученый
Deguchi M, Hase N, Kitabatake M, Kotera H, Shima S, Kitagawa M (1997) Пьезорезистивные свойства CVD-алмазных пленок. Diam Relat Mater 6: 367–373
Google ученый
Бойко Ю., Гонон П., Правер С., Джеймисон Д. Н. (1997) Пьезорезистивность легированных бором алмазных CVD-пленок. Mater Sci Eng B 46: 112–114
Google ученый
Wang WL, Jiang X, Taube K, Klages CP (1997) Пьезорезистивность поликристаллических алмазных пленок типа p с разным уровнем легирования при разных температурах.J Appl Phys 82: 729–732
CAS Google ученый
Сахли С., Аслам Д.М. (1998) Сверхчувствительные полиалмазные пьезорезисторы внутри зерна. Датчики Актуаторы A 71: 193–197
CAS Google ученый
Fang L, Wang WL, Ding PD, Liao KJ, Wang J (1999) Исследование пьезорезистивного эффекта кристаллического и поликристаллического алмаза при одноосной деформации.J Appl Phys 86: 5185–5193
CAS Google ученый
Adamschik M, Müller R, Gluche P, Flöter A, Limmer W., Sauer R, Kohm E (2001) Анализ пьезорезистивных свойств CVD-алмазных пленок на кремнии. Diam Relat Mater 10: 1670–1675
CAS Google ученый
Ямамото А., Цуцумото Т. (2004) Пьезорезистивный эффект CVD поликристаллических алмазных пленок.Diam Relat Mater 13: 863–866
CAS Google ученый
Ямамото А., Норио Н., Такахиро Т. (2007) Оценка коэффициента толщины алмазов до 500 ° C . Diam Relat Mater 16: 1670–1675
CAS Google ученый
Кульха П., Кромка А., Бабченко О., Ванецек М., Хусак М., Уильямс О. А., Хенен К. (2010) Пьезорезистивный датчик с нанокристаллическим алмазом.Вакуум 84: 53–56
Google ученый
Werner M, Dorsch O, Obermeier E (1995) Высокотемпературный датчик давления с использованием алмазных пьезорезисторов p-типа. Diam Relat Mater 4: 873–876
CAS Google ученый
Wur DR, Davidson JL, Kang WP, Kinser DL (1995) Датчик давления из поликристаллического алмаза. J Microelectromech Syst 4: 34–41
CAS Google ученый
Сахли С., Аслам Д.М. (1995) Микросенсоры давления с использованием алмазных пленок p-типа.В: 8-я международная конференция по твердотельным датчикам и исполнительным механизмам, Швеция, стр. 592–595
Дэвидсон Дж. Л., Вур Д. Р., Канг В. П., Кинзер Д. Л., Кернс Д. В. (1996) Поликристаллический алмазный микродатчик давления. Diam Relat Mater 5: 86–92
CAS Google ученый
Ямамото А., Навачи Н., Цуцумото Т., Тераяма А. (2005) Датчик давления с использованием пьезорезисторов из поликристаллического алмаза p-типа. Diam Relat Mater 14: 657–660
CAS Google ученый
Лу Дж., Цао З., Аслам Д.М., Сепульведа Н., Салливан Дж. П. (2008) Алмазные микро- и нанорезонаторы, использующие лазерное, емкостное или пьезорезистивное обнаружение.В: 3-я Международная конференция IEEE по нано / микротехническим и молекулярным системам, Санья, стр. 873–876.
Cao Z, Aslam DM (2009) Технология пьезорезистивных датчиков для RFMEMS с использованием поликристаллического алмаза p-типа. В: Конференция по нанотехнологическим материалам и устройствам IEEE, Траверс-Сити, стр. 190–195
Tibrewala A, Peiner E, Bandorf R, Biehl S, Lüthje H (2006) Пьезорезистивный калибровочный коэффициент гидрогенизированных аморфных углеродных пленок. J Micromech Microeng 16: 75–81
Google ученый
Peiner E, Tibrewala A, Bandorf R, Biehl S, Lüthje H, Doering L (2006) Микродатчик силы с пьезорезистивным тензодатчиком из аморфного углерода.Датчики Приводы A 130–131: 75–82
Google ученый
Tibrewala A, Peiner E, Bandorf R, Biehl S, Lüthje H (2007) Продольный и поперечный пьезорезистивный эффект в пленках гидрированного аморфного углерода. Тонкие сплошные пленки 515: 8028–8033
CAS Google ученый
Tibrewala A, Peiner E, Bandorf R, Beihl S, Lüthje H (2007) Пьезорезистивный эффект в алмазоподобных углеродных пленках.J Micromech Microeng 17: 77–82
Google ученый
Мешкинис С., Гудайтис Р., Копустинскас В., Тамулявичюс С. (2008) Электрические и пьезорезистивные свойства DLC-пленок, осажденных ионным пучком. Appl Surf Sci 254: 5252–5256
Google ученый
Канг В.П., Гурбуз Ю., Дэвидсон Дж. Л., Кернс Д. В. (1994) Новый датчик водорода с использованием диода Шоттки на основе поликристаллического алмаза.J Electrochem Soc 141: 2231–2234
CAS Google ученый
Гурбуз Ю., Канг В.П., Дэвидсон Дж.Л., Кинсер Д.Л., Кернс Д.В. (1996) Датчики газа Diamond Microelectronics. Датчики Приводы B 33: 100–104
CAS Google ученый
Канг В.П., Гурбуз Ю., Дэвидсон Дж. Л., Кернс Д. В. (1995) Датчик водорода на основе тонкой пленки из поликристаллического алмаза. Датчики Приводы B 24–25: 421–425
Google ученый
Balducci A, D’Amico A, Natale CD, Marinelli M, Milani E, Morgada ME, Pucella G, Rodriguez G, Tucciarone A, Verona-Rinati G (2005) Высокоэффективная термопара на основе CVD-алмаза для обнаружение газа.Датчики Приводы B 111–112: 102–105
Google ученый
Гурбуз Ю., Канг В.П., Дэвидсон Дж.Л., Кернс Д.В. (2004) Алмазный микроэлектронный датчик газа для обнаружения бензола и толуола. Датчики Приводы B 99: 207–215
CAS Google ученый
Гурбуз И., Канг В.П., Дэвидсон Дж. Л., Кернс Д. В. (1996) Новый датчик газообразного кислорода, использующий тонкопленочный алмазный диод с катализированным электродом из оксида олова.Датчики Приводы B 35–36: 303–307
Google ученый
Gurbuz Y, Kang WP, Davidson JL, Kinser DL (1998) Устойчивый к высоким температурам микроэлектронный датчик кислорода на основе алмаза. Датчики Приводы B 49: 115–120
CAS Google ученый
Helwig A, Müller G, Garrido JA, Eickhoff M (2008) Газоочувствительные свойства алмаза с водородной цепью. Датчики Приводы B 133: 156–165
CAS Google ученый
Salvatori S, Pace E, Rossi MC, Galluzzi F (1997) Фотоэлектрические характеристики алмазных УФ-детекторов: зависимость от конструкции устройства и качества пленки.Diam Relat Mater 6: 361–366
CAS Google ученый
Pace E, Di Benedetto R, Scuderi S (2000) Для стабильных, слепых и высокочувствительных CVD-алмазных УФ-фотоприемников для лабораторных и космических приложений. Diam Relat Mater 9: 987–993
CAS Google ученый
Hochedez J-F, Verwichte E, Bergonzo P, Guizard B, Mer C, Tromson D, Sacchi M, Dhez P, Hainaut O, Lemaire P, Vial J-C (2000) Будущие алмазные УФ-сканеры для физики Солнца.Физический статус Solidi A 181: 141–149
CAS Google ученый
Hochedez JF, Bergonzo P, Castex MC, Dhez P, Hainaut O, Sacchi M, Alvarez JK, Boyer H, Deneuville A, Gibart P, Guizard B, Kleider JP, Lemaire P, Mer C, Monroy E, Муньос Э., Мюрет П., Омнес Ф., Пау Дж. Л., Ральченко В., Тромсон Д., Вериджте Э., Фиал Дж. К. (2001) Алмазные УФ-детекторы для будущих миссий по физике Солнца. Diam Relat Mater 10: 673–680
CAS Google ученый
Salvatori S, Della Scala A, Rossi MC, Conte G (1990) Оптимизированные контактные структуры для УФ-детекторов металл-алмаз-металл.Diam Relat Mater 11: 458–462
Google ученый
Каниа Д.Р., Пан Л., Корнблюм Х, Белл П., Ланден О.Н., Пианетта П. (1990) Детектирование мягкого рентгеновского излучения с помощью алмазных фотопроводящих детекторов. Rev Sci Instrum 61: 2765–2767
Google ученый
Conte G, Rossi MC, Salvatori S, Ascarelli P, Trucchi D (2004) Тонкий поликристаллический алмаз для обнаружения низкоэнергетических рентгеновских лучей.J Appl Phys 96: 6415–6420
CAS Google ученый
Ван Л., Лю Дж., Сюй Р., Пэн Х, Ши Х, Ся И (2007) Нанокристаллическая алмазная пленка CVD в качестве детектора рентгеновского излучения. Semicond Sci Technol 22: 128–131
Google ученый
Хассон Д., Бауэр С., Бауманн И., Колледани К., Конвей Дж., Дельпьер П., Джама Ф, Дулински В., Эдвардс М., Фаллоу А., Ган К. К., Гилмор Р. С., Григорьев Е., Хейлвелл Г., Хан С., Hessing T, Hrubec J, Kagan H, Kania D, Kass R, Knoepfle KT, Krammer M, Llewellyn TJ, Manfredi PF, Meier D, Pan LS, Pernegger H, Pernicka M, Re V, Roe VS, Roff D, Rudge A , Schnetzer S, Speziall V, Stone R, Trapper AJ, Tesarek R, Trischuk W, Turchetta R, Thomson GB, Weilhammer P, Zioch H, Zoeller M (1997) Нейтронное облучение образцов CVD-алмаза для отслеживающих детекторов.Ядерные инструментальные методы Phys Res A 388: 421–426
CAS Google ученый
Schmid GJ, Koch JA, Lerche RA, Moran MJ (2004) Датчик нейтронов на основе монокристаллического CVD-алмаза. Ядерные инструментальные методы Phys Res A 527: 554–561
CAS Google ученый
Bergonzo P, Foulon F, Marshall RD, Jany C, Brambilla A, McKeag RD, Jackman RB (1999) Тонкопленочные алмазные альфа-детекторы для дозиметрических приложений.Diam Relat Mater 8: 952–955
CAS Google ученый
Джуди Д.К., Блэкберн Дж., Меркель Дж., Флитвуд Р.М., Вайденхаймер Д.М., Дженкинс Б., Горбикс С.Г., Перейра Н.Р. (1996) Измерения плотности энергии и потока протонных пучков с использованием дифференциально фильтрованных алмазных детекторов и радиахромной пленки. IEEE Trans Nucl Sci 43: 2701–2708
CAS Google ученый
Cholewa M, Kamiya T, Saint A, Prawer S, Legge O, Butler JE, Vestyck DJ (1998) Алмазные мембраны: приложения для обнаружения одиночных ионов с использованием вторичной электронной эмиссии.Diam Relat Mater 7: 510–512
CAS Google ученый
Kamiya T, Cholewa M, Saint A, Prawer S, Legge GJF (2007) Вторичная электронная эмиссия из легированного бором алмаза под ионным ударом: приложения в детектировании одиночных ионов. Appl Phys Lett 71: 1875–1877
Google ученый
Berdermann E, Blasche K, Moritz P, Stelzer H, Voss B (2001) Использование CVD-алмаза для обнаружения тяжелых ионов.Diam Relat Mater 10: 1770–1777
CAS Google ученый
Mainwood A (2000) Тематический обзор последних разработок алмазных детекторов частиц и УФ-излучения. Semicond Sci Technol 15: 55–63
Google ученый
Хан С., Вагнер Р.С. (1996) Эффекты границ зерен на перенос носителей в нелегированном поликристаллическом алмазе, осажденном из газовой фазы. Appl Phys Lett 68: 3016–3018
CAS Google ученый
Канг В.П., Дэвидсон Дж.Л., Вонг Ю.М., Холмс К. (2004) Алмазные вакуумные автоэмиссионные устройства.Diam Relat Mater 13: 975–981
CAS Google ученый
Subramanian K, Kang WP, Davidson JL, Hofmeister WH, Choi BK, Howell M (2005) Планарный боковой автоэмиссионный диод с наноалмазами. Diam Relat Mater 14: 2099–2014
CAS Google ученый
Subramanian K, Kang WP, Davidson JL, Jarvis JD, Hofmeister WH, Choi BK, Howell M (2006) Улучшение геометрического поля на наноалмазной пленке с микрорельефом для эмиссии электронов.Diam Relat Mater 15: 417–425
CAS Google ученый
Subramanian K, Kang WP, Davidson JL, Choi BK, Howell M (2006) Автоэмиссионный диод с боковой гребенчатой решеткой из наноалмазов для сильноточных приложений. Diam Relat Mater 15: 1994–1997
CAS Google ученый
Субраманиан К., Канг В.П., Дэвидсон Дж.Л., Вонг Ю.М., Чой Б.К. (2007) Изготовление полевого диода с боковой эмиссией из нанокристаллического алмаза методом двойного микрорельефа.Diam Relat Mater 16: 1408–1412
CAS Google ученый
Subramanian K, Wong YM, Kang WP, Davidson JL, Choi BK, Howell M (2007) Полевые эмиссионные устройства для передовой электроники, состоящие из эмиттеров с боковыми наноалмазами или углеродными нанотрубками. Diam Relat Mater 16: 1997–2002
CAS Google ученый
Субраманиан К., Канг В.П., Дэвидсон Дж.Л., Хауэлл М. (2008) Устройства с боковым полевым эмиттером из наноалмазов на толстых изоляционных подложках для надежных мощных приложений.Diam Relat Mater 17: 786–789
CAS Google ученый
Liou YL, Liou J-C, Huang J-H, Tai NH, Lin I-N (2008) Изготовление и автоэмиссионные свойства ультрананокристаллических боковых излучателей алмаза. Diam Relat Mater 17: 776–781
CAS Google ученый
Xu NS, She JC, Huq SE, Chen J, Deng SZ, Chen J (2001) Микротехнология и характеристика источников электронов с затворной аморфной эмиссией на основе аморфного алмаза.Ультрамикроскопия 89: 111–118
CAS Google ученый
Chen C-F, Hsieh H-C (2000) Влияние тока эмиссии на стробируемую структуру и морфологию алмазного эмиттера в полевых эмиссионных массивах триодного типа. Diam Relat Mater 9: 1257–1262
CAS Google ученый
Chen C-F, Tsai C-L, Lin C-L (2001) Изготовление и определение характеристик легированных фосфором алмазных полевых эмиттеров в решетках автоэлектронной эмиссии триодного типа.Diam Relat Mater 10: 834–839
CAS Google ученый
Квон С.Дж., Шин Ю.Х. (1998) Автоэмиссионные свойства поликристаллической алмазной пленки, полученной с помощью плазменного химического осаждения из паровой фазы с помощью микроволнового излучения. J Vac Sci Technol, B 16: 712–715
CAS Google ученый
Хонг Д., Аслам Д.М. (1999) Ячейки с полевым эмиттером с полиалмазным затвором. IEEE Trans Electron Devices 46: 787–791
CAS Google ученый
Nguyen CT-C (2008) Встроенные микромеханические радиоволны.В: Международный симпозиум по технологии, системам и приложениям СБИС, стр. 3-4
Ван К., Вонг A-C, Нгуен CT-C (2000) УКВ-свободнопучковые микромеханические резонаторы с высокой добротностью. J Microelectromech Syst 9: 347–360
Google ученый
Wang J, Ren Z, Nguyen CT-C (2004) Самовыравнивающийся вибрационный микромеханический дисковый резонатор с частотой 1,156 ГГц. IEEE Trans Ultrason Ferroelectr Freq Control 51: 1607–1628
Google ученый
Се И, Ли С, Лин И, Рен З, Кларк Т., Нгуен CT-C (2008) 1.Микромеханические объемные кольцевые резонаторы типа бокал с частотой 52 ГГц. IEEE Trans Ultrason Ferroelectr Freq Control 55: 890–907
Google ученый
Whitfield MD, Audic B, Flannery CM, Kehoe LP, Crean GM, Jackman RB (1999) Распространение акустической волны в свободно стоящем CVD-алмазе: влияние качества пленки и температуры. Diam Relat Mater 8: 732–737
CAS Google ученый
Халл Р. (1999) Свойства кристаллического кремния.IEE Publishing, Портленд
Google ученый
Harris GL (1995) Свойства карбида кремния. IEE Publishing, Портленд
Google ученый
Liao M, Rong Z, Hishita S, Imura M, Koizumi S, Koide Y. (2012) Наноэлектромеханический переключатель, изготовленный из монокристаллического алмаза: эксперименты и моделирование. Diam Relat Mater 24: 69–73.
CAS Google ученый
Ван Дж., Батлер Дж. Э., Хсу DSY, Нгуен CT-C (2002) CVD-поликристаллические алмазные высокодобротные микромеханические резонаторы.В: 15-я международная конференция IEEE по микроэлектромеханическим системам, Лас-Вегас, стр 657–660
Сепульведа Н., Аслам Д.М., Салливан Дж. П. (2005) Технология МЭМС-резонаторов с поликристаллическими алмазами для сенсорных приложений. Diam Relat Mater 15: 398–403
Google ученый
Сепульведа Н., Лу Дж., Аслам Д.М., Салливан Дж. П. (2008) Высокопроизводительные поликристаллические алмазные микро- и нанорезонаторы. J Microelectromech Syst 17: 473–482
Google ученый
Wang J, Butler JE, Hsu DSY, Nguyen CT-C (2002) Высокодобротные микромеханические резонаторы в CH 4 -реагент-оптимизированный высокоскоростной CVD-полиалмаз.В: Семинар по твердотельным датчикам, приводам и микросистемам, Хилтон-Хед, Южная Каролина, стр. 61–62.
Ван Дж., Батлер Дж. Э., Фейгельсон Т., Нгуен CT-C (2004) Микромеханический дисковый резонатор с нанокристаллическим алмазом 1,51 ГГц с несоответствующим материалом изолирующим основанием. В: 17-я Международная конференция IEEE по микроэлектромеханическим системам, Масстрихт, Нидерланды, стр. 641–644.
Имбоден М., Моханти П., Гайдаржи А., Ранкин Дж., Шелдон Б.В. (2007) Масштабирование рассеяния в микромеханических алмазных генераторах мегагерцового диапазона.Appl Phys Lett 90: 1–4
Google ученый
Hutchinson AB, Truitt PA, Schwab KC, Sekaric L, Parpia JM, Craighead HG, Butler JE (2004) Диссипация в нанокристаллических алмазных наномеханических резонаторах. Appl Phys Lett 84: 972–974
CAS Google ученый
Болдуин Дж. У., Залалутдинов М.К., Фейгельсон Т., Пейт BB, Балтер Дж. Э., Хьюстон Б. Х. (2006) Решетка резонаторов из нанокристаллического алмаза для обработки радиочастотных сигналов.Diam Relat Mater 15: 2061–2067
CAS Google ученый
Гайдаржи А., Имбоден М., Моханти П., Ранкин Дж., Шелдон Б.В. (2007) Гигагерцовые частоты высокого коэффициента добротности в наномеханических алмазных резонаторах. Письма по прикладной физике 91 (20), 203503 — 203503–3.
Адига В.П., Сумант А.В., Суреш С., Гудеман С., Карлайл Дж. А., Аусиелло О., Карпик Р. В. (2009) Механическая жесткость и диссипация в ультрананокристаллических алмазных резонаторах.Phys Rev B 79: 245403
Google ученый
Chua DHC, Milne WI, Sheeja D, Tay BK, Schneider D (2004) Изготовление алмазоподобных консольных резонаторов из аморфного углерода. J Vac Sci Technol B 22: 2680–2684
CAS Google ученый
Чаплевски Д.А., Саллван Дж. П., Фридман Т. А., Вендт Дж. Р. (2006) Механическое рассеяние при повышенных температурах в осцилляторах из тетраэдрического аморфного углерода.Diam Relat Mater 15: 309–312
CAS Google ученый
Ertl S, Adamschik M, Schmid P, Gluche P, Flöter A, Kohn E (2000) Микропереключатель с микроповерхностным алмазом. Diam Relat Mater 9: 970–974
CAS Google ученый
Adamschik M, Kusterer J, Schmid P, Schad KB, Grobe D, Flöter A, Kohn E (2002) Микрореле микроволн Diamond. Diam Relat Mater 11: 672–676
CAS Google ученый
Гурбуз Й., Эсаме О., Текин И., Канг В.П., Дэвидсон Дж.Л. (2005) Алмазная полупроводниковая технология для приложений ВЧ-устройств.Твердотельная электроника 49: 1055–1070
CAS Google ученый
Schmid P, Hernandez-Guillen FJ, Kohn E (2003) Алмазный переключатель, использующий новый принцип теплового срабатывания. Diam Relat Mater 12: 418–421
CAS Google ученый
Ramesham R, Roppel T, Ellis C (1991) Изготовление микроканалов в тонких пленках синтетического поликристаллического алмаза для теплоотводов.J Electr Soc 138: 1706–1709
CAS Google ученый
Müller R, Schmid P, Munding A, Gronmaier R, Kohn E (2004) Элементы для поверхностной микрофлюидики в алмазе. Diam Relat Mater 13: 780–784
Google ученый
Guillaudeu S, Zhu X, Aslam DM (2003) Изготовление поликристаллических алмазных каналов шириной 2 мкм с использованием силиконовых форм для микрожидкостных приложений.Diam Relat Mater 12: 65–69
CAS Google ученый
Müller R, Guillaudeu S, Janischowsky K, Kusterer J, Kohn E (2005) «Полностью алмазная» струйная печать, реализованная в технологии жертвенного слоя. Diam Relat Mater 14: 504–508
Google ученый
Szarowski DH, Andersen MD, Retterer S, Spence AJ, Isaacson M, Craighead HG, Turner JN, Shain W (2003) Мозговые реакции на микромашинные кремниевые устройства.Brain Res 983: 23–35
CAS Google ученый
Tang L, Tsai C, Gerberich WW, Kruckebeu L, Kania DR (1995) Биосовместимость алмаза, нанесенного химическим осаждением из паровой фазы. Биоматериалы 16: 483–488
CAS Google ученый
Tang Y, Aslam DM, Wang J, Wise KD (2005) Поликристаллические алмазные пьезорезистивные датчики положения для зонда для кохлеарного имплантата. В: Proceedings of твердотельные датчики, исполнительные механизмы и микросистемы, стр 542-546
Swain GM, Ramesham R (1993) Электрохимическая активность поликристаллического алмаза, легированного бором, тонкопленочного электрода.Anal Chem 65: 345–351
CAS Google ученый
Чан Х.Й., Варни М., Аслам Д.М., Вайз К.Д. (2008) Изготовление и определение характеристик полностью алмазных микрозондов для электрохимического анализа. В: Международная конференция IEEE по нано / микротехническим и молекулярным системам, стр. 532–535
Chan HY, Aslam DM, Wang SH, Swain GM, Wise KD (2008) Изготовление и тестирование новой полностью алмазной нейронной системы. зонд для химического обнаружения и электрических измерений.В: Международная конференция IEEE по микроэлектромеханическим системам, стр. 244–247
Чан Х-Й, Аслам Д.М., Уилер Дж., Кейси Б. (2009) Новый алмазный микрозонд для нейрохимической и электрической регистрации в нервных протезах. J Microelectromech Syst 18: 511–521
CAS Google ученый
Bennett A, Wang J, Show Y, Swain GM (2004) Влияние sp 2 -связанной неалмазной примеси углерода на отклик легированных бором поликристаллических алмазных тонкопленочных электродов.J Electrochem Soc 151: 306–313
Google ученый
Небель CE, Като Х., Резек Б., Шин Д., Такеучи Д., Ватанабе Х, Ямамото Т. (2006) Электрохимические свойства нелегированного CVD-алмаза с концевыми водородными группами. Diam Relat Mater 15: 264–268
CAS Google ученый
Chan H-Y (2008) Поликристаллические алмазные зонды CVD для использования в нейронных исследованиях in vivo и in vitro, Ph.D Диссертация, Университет штата Мичиган
Zhu X, Aslam DM (2006) Технология тонкой пленки CVD-алмаза для упаковки MEMS. Diam Relat Mater 15: 254–258
CAS Google ученый
Zhu X, Aslam DM, Sullivan JP (2006) Применение поликристаллического алмаза в процессе тонкопленочной упаковки резонаторов MEMS. Diam Relat Mater 15: 2068–2072
CAS Google ученый
Zhu X, Aslam DM, Tang Y, Stark BH, Najafi K (2004) Производство полностью алмазных упаковочных панелей со встроенными межсоединениями для беспроводных интегрированных микросистем.J Microelectromech Syst 13: 396–405
CAS Google ученый
May PW, Harvey JN, Smith JA, Mankelevich YA (2006) Переоценка механизма осаждения ультрананокристаллического алмаза из газовых смесей Ar / CH 4 / H 2 . J Appl Phys 99: 104907-1-104907–11
Google ученый
Сяо X, Биррелл Дж., Герби Дж. Э., Аусиелло О., Карлайл Дж. А. (2004) Низкотемпературный рост ультрананокристаллического алмаза.J Appl Phys 96: 2232–2239
CAS Google ученый
Карлайл Дж. А., Груэн Д. М., Аусиелло О., Сяо X (2009) Метод выращивания чистых нанокристаллических алмазных пленок при низких температурах и высоких скоростях осаждения. Патент США № 7,556,982.
Ding MQ, Krauss R, Auciello O, Gruen DM, Corrigan T, Kordesch ME, Temple D, Palmer D, McGuire G (1999) Исследования полевой эмиссии из тонких пленок алмазов, выращенных под углом. J Vac Sci Technol B 17: 705–709
CAS Google ученый
Робертсон Дж., Гербер Дж., Саттел С., Вейлер М., Юнг К., Эрхардт Х. (1995) Механизм зарождения алмаза на Si с усилением смещения.Appl Phys Lett 66: 3287–3289
CAS Google ученый
Lee YC, Lin SJ, Lin CY, Yip MC, Fang W, Lin IN (2006) Методы предварительного зародышеобразования для повышения плотности зародышеобразования и адгезии ультра-нанокристаллического алмаза, осажденного при низкой температуре. Diam Relat Mater 15: 2046–2050
CAS Google ученый
Chen YC, Zhong XY, Konicek AR, Grierson DS, Tai NH, Lin IN, Kabius B, Hiller JM, Sumant AV, Carpick RW, Auciello O (2008) Синтез и определение характеристик гладких ультрананокристаллических алмазных пленок с помощью низких зарождение и рост под давлением смещения.Appl Phys Lett 92 (13): 133113
Google ученый
Stoner BR, Ma G-HM, Wolter SD, Glass JT (1992) Характеристика зародышеобразования алмаза на кремнии с усиленным смещением с помощью анализа поверхности в вакууме и просвечивающей электронной микроскопии. Phys Rev B 45: 11067–11084
CAS Google ученый
Gerber S, Sattel S, Ehrhardt H, Robertson J, Wurzinger P, Pongratz P (1996) Исследование зародышеобразования алмаза на кремнии с усилением смещения.J Appl Phys 79: 4388–4396
CAS Google ученый
Lee YC, Lin SJ, Chia CT, Cheng HF, Lin IN (2005) Влияние параметров обработки на поведение зародышеобразования нанокристаллической алмазной пленки. Diam Relat Mater 14: 296–301
CAS Google ученый
Fuentes-Fernandez EMA, Alcantar-Peña JJ, Lee G, Boulom A, Phan H, Smith B, Nguyen T, Sahoo S, Ruiz-Zepeda F, Arellano-Jimenez MJ, Gurman P, Martinez-Perez CA , Якаман М.Дж., Катияр Р.С., Аусиелло О. (2016) Синтез и определение характеристик микрокристаллических алмазных пленок в ультрананокристаллические алмазные пленки с помощью химического осаждения из газовой фазы горячей нитью для масштабирования приложений большой площади.Тонкие твердые пленки 603: 62–68
CAS Google ученый
Барбоса Д.К., Алмейда Ф.А., Силва Р.Ф., Феррейра Н.Г., Трава-Эйрольди В.Дж., Корат Е.Дж. (2009) Влияние температуры подложки на формирование ультрананокристаллических алмазных пленок, осажденных HFCVD-газовой смесью, богатой аргоном. Diam Relat Mater 18: 1283–1288
CAS Google ученый
Barbosa DC, Hammer P, Trava-Airoldi VJ, Corat EJ (2012) Ценная роль скорости ренуклеации в росте ультрананокристаллических алмазов.Diam Relat Mater 23: 112–119
CAS Google ученый
Ansari SG, Anh TL, Seo H-K, Sung K-G, Mushtaq D, H-S. Shin H-S, (2004) Кинетика роста алмазной пленки с зародышеобразованием, усиленным смещением, и смесью H 2 / CH 4 / Ar в системе химического осаждения из газовой фазы с горячей нитью. Рост кристаллов J 265 (3–4): 563–570
CAS Google ученый
Li Y, Li J, Wang Q, Yang Y, Gu C (2009) Контролируемый рост нанокристаллических алмазных пленок методом химического осаждения из газовой фазы горячей нитью.J Nanosci Nanotechnol 9 (2): 1062–1065
CAS Google ученый
Янишовски К., Эберт В., Кон Е. (2003) Зарождение алмаза на кремнии с усилением смещения (100) в системе HFCVD. Diam Relat Mater 12 (3–7): 336–339
CAS Google ученый
Алькантар-Пенья Дж. Дж., Де Обальдиа Е., Монтес-Гутьеррес Дж., Канг К., Арельяно-Хименес М. Дж., Ортега Агилар Дж. Е., Сухи Г. П., Берман-Мендоса Д., Гарсия Р., Якаман М. Дж., Осьелло О (2017) Основы синтеза многофункциональных ультрананокристаллических алмазных пленок на большой площади с помощью химического осаждения из газовой фазы горячей нити с большой площадью смещения, усиленного зародышеобразования / смещения, ускоренного роста для изготовления широкого спектра многофункциональных устройств на основе алмаза.Diam Relat Mater 78: 1–11
Google ученый
Коммутатор RF-MEMS 0,5–6 ГГц GaN 40 Вт SPDT-переключатель: TGS2355, Qorvo (https://www.rfglobalnet.com/doc/gan-100-watt-spdt-switch-tgs2355-datasheet-0001
Goldsmith C, Sumant AJ, Auciello O, Carlisle JA, Zeng H, Hwang JCM, Palego C, Wang Carpick WR, Adiga V, Datta A, Gudeman C, O’Brien S, Sampath S (2010) Зарядка характеристики ультрананокристаллического алмаза в емкостных переключателях RF-MEMS.В: Дайджест Международного микроволнового симпозиума IEEE, стр. 1246–1249.
Schroeppel E, Lin J (1999) Надежность и клиническая оценка источников питания кардиостимуляторов. В: Munshi MZA (ed) Справочник по твердотельным батареям и конденсаторам, том 1. World Scientific Publishing Co, Лондон
Google ученый
Робертс П., Стэнли Дж., Морган Дж. М. (2008) Сбор энергии сердечного движения для работы кардиостимулятора.Тираж 118: S679 – S682
Google ученый
Лу Ф, Ли ХП, Лим С.П. (2004) Моделирование и анализ микропьезоэлектрических генераторов энергии для приложений микроэлектромеханических систем. Smart Mater Struct 13: 57–63
Google ученый
Lee G, Fuentes-Fernandez EM, Lian G, Katiyar RS, Auciello O (2015) Гетероэпитаксиальный BiFeO 3 / SrTiO 3 Наноламинаты с более высокой производительностью пьезоотклика по сравнению со стехиометрическими пленками BiFeO.Appl Phys Lett 106: 022905
Google ученый
Сударсан С., Хиллер Дж., Кабиус Б., Аусиелло О. (2007) Пьезоэлектрические / ультрананокристаллические алмазные гетероструктуры для высокоэффективных многофункциональных микро / наноэлектромеханических систем. Appl Phys Lett 90: 134101
Google ученый
Auciello O (2020) Наука и технология интегрированных многофункциональных пьезоэлектрических оксидов / ультрананокристаллических алмазных пленок (UNCD TM ) для нового поколения биомедицинских устройств для генерирования энергии, доставки лекарств и датчиков для МЭМС.В: О. Аусиелло (ред.). Глава 9 в книге «Ультрананокристаллический алмаз (UNCD TM ), оксиды, нитридные покрытия и наночастицы для нового поколения медицинских устройств, протезов и методов лечения. Cambridge Publisher, Cambridge ( в печати ).
Томас Р., Мочизуки С., Михара Т., Ишид Т. (2002) Получение тонких пленок Pb (Zr, Ti) O с помощью высокочастотного магнетронного распыления с одной стехиометрической мишенью: структурные и электрические свойства. Тонкие твердые пленки 413: 65–75
CAS Google ученый
Ван З., Кокава Х., Маеда Р. (2006) Эпитаксиальные пленки PZT, нанесенные импульсным лазерным осаждением для приложений МЭМС.Издания TIMA / DTIP, ISBN 2:
7-03.
Auciello O, Dat R, Ramesh R (1996) Импульсное лазерное абляционное осаждение и определение характеристик сегнетоэлектрических тонких пленок и гетероструктур. В: Paz de Araujo CA, Scott JF, Taylor GW (eds) Тонкие сегнетоэлектрические пленки: синтез и основные свойства. Издательство Gordon and Breach, Лондон
Google ученый
Баджадж П., Акин Д., Гупта А., Шерман Д., Ши Б., Аусиелло О., Башир Р. (2007) Ультрананокристаллическая алмазная пленка как оптимальный интерфейс ячейки для биомедицинских приложений.Биомед Микродев 9 (6): 787–794
CAS Google ученый
Shi B, Jin Q, Chen L (2008) Auciello O (2008) Основы ультрананокристаллических алмазных пленок (UNCD) как биоматериалов для биологии развития: рост эмбриональных фибробластов на поверхности пленок (UNCD). Diam Relat Mater 18 (2): 596–600
Google ученый
Жена О.Аусиелло получила в 2013 году дефибриллятор / кардиостимулятор с питанием от литий-ионной батареи (общая стоимость устройства + больница в США — 91 000 долларов).Полное устройство (инкапсулированная электроника плюс аккумулятор) пришлось заменить к 2019 году (общая стоимость нового устройства + дневной стационар = 71000 долларов).
Ballantine DS Jr, White RM, Martin SJ, Ricco AJ, Zellers ET, Frye GC, Wohltjen H, Levy M и Stern R (1997) Датчики акустических волн: теория, дизайн и физико-химические приложения, Academic Press Inc.
Залазар М., Аусиелло О. (2020) Наука и технология интегрированных нитридных пьезоэлектрических / ультрананокристаллических алмазных (UNCD TM ) пленок для нового поколения биомедицинских устройств для выработки энергии, доставки лекарств и датчиков.В: Auciello O (ред.) Глава 8 в книге «Ультрананокристаллический алмаз (UNCD TM ), оксиды, нитридные покрытия и наночастицы для нового поколения медицинских устройств, протезов и методов лечения. Cambridge Publisher (в печати)
Gruen DM, Krauss AR, Auciello O, Carlisle JA (2004) Легирование N-типа пленок NCD азотом и электродов, изготовленных из него », патент США № 6,793,849 B1
Getty SA, Auciello O, Sumant AV, Wang X, Galvin DP, Mahaffy PR (2010) Характеристика ультрананокристаллического алмаза, содержащего азот, как прочного материала с холодным катодом.Микро- и нанотехнологические датчики, системы и приложения-II. В: Джордж Т., Ислам С., Датта А. (ред.) Proceedings SPIE. т. 7679, 76791Н-1.
Обзор материалов, стратегий проектирования и изготовления, а также анализ эффективности
101 ЖУРНАЛ ПО ДИЗАЙНУ ФАСАДОВ И ИНЖЕНЕРНОМУ ОБЪЕМУ 7 / НОМЕР 2/2019
Dnz, N., Branco, C., & Sales D Кас, М. (2017). МОРФОЗ: Ответная мембрана. В A. Dong, A. Vande Moere и J. Gero (Eds.),
Computer-aided Architectural Design Futures 2007: Материалы 12-й Международной конференции CAADFutures 2007 (стр.
489–498). Дордрехт: Спрингер.
Doumpot, C. (2011). Ответственные и автономные материальные интерфейсы. В J. Taron, V. Parlac, B. Kolarevc и J. Johnson (Eds.),
Интеграция посредством вычислений: материалы 31-й ежегодной конференции Ассоциации компьютерного проектирования в архитектуре
(ACADIA) (стр. 318–325). Калгари / Бано: Университет Калгари.
Doumpot, C., Greenberg, E. L., & Karatzas, K. (2010). Встроенная интеллект: Материальная ответственность фасадных систем.В A.
Sprecher, S. Yeshayahu, & P. Lorenzo-Eroa (Eds.), In LIFE in: education, On Responsive Information and Variations in Archi-
tecture: Proceedings of the 30th Annual Conference of the Ассоциация автоматизированного проектирования в архитектуре (ACADIA) (стр.
258–262). Нью-Йорк: Купер Унон, Институт Пратта.
Эль-Дабаа, Р., и Абдельмохсен, С. (2018). Методология оценки гигроскопического поведения древесины в адаптируемом здании
с использованием грамматики мотон.Серия конференций IOP: Материаловедение и инженерия, 362 (1). https: //do.org/10.1088/1757-
899X / 362/1/012011
Эль-Дабаа, Р., и Абдельмохсен, С. (2019). H M T M: Композиты Hygromorphc-Thermobmetal как подход 9 ноября 2007 г. к усилению проходного срабатывания адаптируемых фасадов. Джи-Хён Ли (ред.) «Привет, культура!»
[18-я международная конференция, CAAD Futures 2019, Proceedings / ISBN 978-89-89453-05-5], 290–300. Тэджон.
Елахання, М., Шайесте Могхаддам, Н., Тахеро Андано, М., Амерёнатанзо, А., Бэмбер, Б. А., и Хамелтон, Р. Ф. (2016). Фабрика
NT посредством дополнительного производства: A revew. Прогресс материаловедения, 83, 630–663. https: //do.org/10.1016/j.pmats-
c.2016.08.001
Forto, F., Sauchell, M., Arroyo, D., Pesent, M. , Имперадоро М., Мазера Г. и Ранзо Г. (2016). Форма морфинга солнечных теней: A
revew. Обзоры возобновляемой и устойчивой энергетики, 55, 863–884.https: //do.org/10.1016/j.rser.2015.10.086
Форменто, М., и Ленцу, С. (2017). Инновационная конструкция корпуса (фасад knetc) из сплавов с памятью формы, используемых в качестве приводов
и датчиков. Автоматика в строительстве, 85, 220–231.
Гладман, А.С., Мацумото, Э.А., Нуццо, Р.Г., Махадеван, Л., и Льюис, Дж. А. (2016). Биомиметическая 4D печать. 15 (апрель). https: // do.
org / 10.1038 / NMAT4544
Grnham, J., Blaboll, R., & Haak, J. (2014).Материал для программирования экранов Harvest Shade для предприятий оптической энергетики. ACA-
DIA 14: Design Agency [Материалы 34-й ежегодной конференции Ассоциации автоматизированного проектирования в архитектуре
(ACADIA), 281–290. Лос-Анджелес.
Hannequart, P., Pegney, M., Caron, J., Baverel, O., & Vglno, E. (2018). Возможности сплавов с памятью формы в развертываемых системах
— Дизайн и экспериментальный подход. Гуманизация цифровой реальности, Vol.2. С. 237–246. Сингапур: Спрингер.
Холстов А., Брюдженс Б. и Фармер Г. (2015). Гигроморфные материалы для надежной и ответственной архитектуры. Строительство и
Строительные материалы, 98, 570–582. https: //do.org/10.1016/j.conbuldmat.2015.08.136
Холстов А., Фармер Г. и Брудженс Б. (2017). Устойчивый материал ответственной архитектуры. Устойчивое развитие (Швейцария),
9 (3). https: //do.org/10.3390/su35
Juarst, M., Гомес-Асебо, Т., и Монж-Барро, А. (2018). Качественный анализ перспективных материалов и технологий для дизайна
и оценка непрозрачных фасадов Clmate Adaptve. Строительство и окружающая среда, 144 (август), 482–501. https: // do.
org / 10.1016 / j.buldenv.2018.08.028
Juarst, M., Monge-barro, A., Sánchez-ostz, A., & Gómez-acebo, T. (2018). Изучение возможностей интеллектуальных и многофункциональных
тональных материалов в адаптивных непрозрачных фасадных системах.Журнал проектирования и проектирования фасадов, 6 (2), 107–117. https: // do.
org / 10.7480 / jfde.2018.2.2216
Jun, JW, Slvero, M., Lluba, JA, Markopoulou, A., Chrons, A., & Dubor, A. ( 2017). Remembrane: A Shape Changng Adaptve
Структура. В книге Г. Жагдаса, М. Озкара, Л. Ф. Гюля и Э. Гюрера (редакторы), «Траектории вычислений в дизайне будущего» [17-я Международная конференция
, CAAD Futures 2017, Proceedings (стр. 180–198). Стамбул.
Кху, К.К., Салем Ф. и Берри Дж. (2012). Дизайн архитектурных конструкций с модульными системами Elastc. Международный журнал
по архитектурным вычислениям, 09 (04), 397–419. https: //do.org/10.1260/1478-0771.9.4.397
Ху, К. К., и Салум, Ф. Д. (2013). Lumna: Мягкий Knetc Materal для Morphng Archtectural Skns и Organc User Interfac-
es. Труды Международной совместной конференции ACM 2013 года по повсеместным и повсеместным вычислениям, 53–62. https: // do.
org / 10.1145 / 2493432.2494263
Кху, К. К., и Шон, Дж. (2018). Дизайн с использованием материалов для ответственной архитектуры: мягкий реагирующий «био-структурный» гидрогель
skn. В A. Kepczynska-Walczak & S. Balkowsk (Eds.), Computing for a better breakfast — Proceedings of the 36th eCAADe Confer-
ence (Vol. 2, pp. 285–292). Лодзь.
Kolodzej, P., & Rak, J. (2013). Ответственная строительная оболочка как материальная система автономных агентов.В BTR Stous, P.
Janssen, S. Roudavsk (Ed.), Open Systems: Proceedings of 18th International Conference on Computer-Aided Architectural
Design Research in Asia (CAADRIA 2013) (стр. 945– 954). Гонконг.
Крецер М. (2014). Архитектура в эпоху ускоренных изменений. ACADIA 2014 Design Agency: Материалы 34-й ежегодной конференции
Ассоциации компьютерного дизайна в архитектуре, 463–472. Лос-Анджелес: Rversde Archtectural Press.
Крецер М. (2016). Информационные материалы: умные материалы для адаптивной архитектуры. https: //do.org/10.1007/978-3-319-35150-6
Кретцер, М. (2018). Обучение умным материалам. Cuadernos Del Centro de Estudios En Diseño y Comunicación. Энсайос, (70), 1–3.
Крецер, М., & Россо, Д. (2012). ShapeShft. Леонардо, 45 (5), 480–481. Получено с https://www.muse.jhu.edu/artcle/484764.
Кю, Ю., Ян, Дж., И Тан, Ю. (2018). Разработка усовершенствованной модели дневного освещения для создания энергетического инструмента для имитации динамического затенения
устройства.Солнечная энергия, 163 (июль 2017), 140–149. https: //do.org/10.1016/j.solener.2018.01.082
Lgnarolo, L., Leleveld, C., & Teuel, P. (2011). Преобразование формы в гибкие фасадные системы, изготовленные из интеллектуальных материалов. В
Адаптивная архитектура: Международная конференция, Лондон, Великобритания, 3-5 марта 2011 г., стр. 1–12. Лондон.
Маркопулу А. (2015). Desgn Behavors; Вопрос программирования для адаптивной архитектуры. Next Generation Building 2, 1, 57–78.
https: // do.org / 10.7564 / 15-NGBJ17
Металлы | Бесплатный полнотекстовый | Обзор: Влияние аддитивного производства металлов на аэрокосмическую промышленность
1. Введение
Элементарная концепция аддитивного производства продукта существует уже несколько десятилетий. Он определяется как процесс постепенного создания объектов из данных компьютерной модели, слой за слоем, до тех пор, пока не будет построен трехмерный объект [1,2]. Первые попытки аддитивного производства объектов возникли в американском Battelle Memorial Institute в конце 1960-х годов [3], где исследователи использовали взаимодействие лазерных лучей и фотополимеров для создания твердых объектов в резервуаре со смолой [4].Появившись в 1987 году в жизнеспособной коммерческой форме как стереолитография (SLA) под патентообладателем Чарльзом Халлом, ее внедрение на рынок было разработано с использованием других технологий, таких как моделирование методом наплавленного осаждения (FDM), селективное лазерное спекание (SLS) и струйная печать, все они все еще используются сегодня [5]. Ранние применения технологии аддитивного производства (AM) включают быстрое прототипирование (RP) станков и RP для поддержки непрерывной разработки продукта путем предоставления прототипов моделей для физической проверки продукта.Тем не менее, за последнее десятилетие технология AM стала свидетелем стремительного развития технологических возможностей и все чаще использовалась как форма прямого производства. В нишевых отраслях, таких как аэрокосмическая, биомедицинская и автомобильная промышленность, AM теперь используется рука об руку с традиционным производством (CM), например субтрактивным производством (SM), которое основывается на удалении материала для производства конечного продукта [6 ]. Впоследствии это привело к резкому росту числа начинающих компаний для быстрого производства (RM) компонентов [7,8].В аэрокосмической отрасли AM особенно переживает постоянно растущую тенденцию использования в производстве различных отдельных компонентов самолетов, на долю которых приходилось 16,6% и 18,2% доли мирового рынка отрасли в 2016 и 2017 годах, соответственно [9,10]. Одной из основных причин этого является перспектива модернизации и производства деталей по запросу со значительным снижением массы и стоимости без ущерба для механических свойств компонентов, изготовленных с помощью AM. Ключевой особенностью технологий AM на основе термоядерного синтеза, используемых для изготовления компонентов аэрокосмической отрасли, является их быстрые циклы плавления / затвердевания, которые приводят к высоким скоростям охлаждения, что приводит к очень мелким зернам, которые дают сопоставимые, если не улучшенные механические свойства по сравнению с деталями из CM [11, 12,13,14,15].Кроме того, гибкость этих технологий AM, основанных на синтезе, позволяет управлять микроструктурными особенностями, такими как зернистая структура, текстура и топология, путем манипулирования параметрами процесса на этапе изготовления [16]. Такая гибкость не только позволяет создавать сложные элементы, которые иначе трудно обрабатывать или производить с помощью процессов CM, но также позволяет адаптировать микроструктуры, которые имеют решающее значение для создания высокопроизводительных аэрокосмических компонентов, поскольку они часто работают в сложных условиях. среды, e.грамм. повышенные температуры, суровая погода и увеличенная продолжительность жизни [17]. Кроме того, экономика процессов AM в значительной степени способствует малосерийному производству в аэрокосмической промышленности. Существенный вклад в высокую стоимость производства компонентов аэрокосмической отрасли с использованием обычных процессов SM связан с их высоким соотношением закупок и продаж, определяемым как массовое соотношение между исходным материалом и конечным продуктом. В частности, для аэрокосмической промышленности это соотношение колеблется от 10: 1 до 15–20: 1 и может достигать 40: 1 для все более сложных компонентов [10,18].Поскольку AM предлагает преимущество производства продуктов, близких к сетчатой, соотношение покупок и продаж может быть значительно уменьшено и даже близко к 1: 1 [7]. С улучшением внутренней микроструктуры, более высоким использованием исходного материала и меньшим количеством связанных отходов материала, а также более быстрым временем обработки, технология AM теперь больше не рассматривается как просто вариант прототипирования, а как прямой производственный метод, который может производить продукты почти чистой формы с высокой качество [7]. Эта новая технология AM обеспечивает улучшенный контроль для конечных пользователей и, в частности, для таких характеристик компонентов, как масса, геометрические ограничения и понесенные затраты [19].Более того, успешная адаптация металлических AM в аэрокосмическом секторе открывает больше возможностей с точки зрения устойчивости и связанных с ними структур цепочки поставок в будущем. Однако, хотя AM переживает быстрое успешное внедрение в аэрокосмической, автомобильной и медицинской областях, AM все еще остается считается развивающейся технологией. Что касается отсутствия установленных связанных стандартов и сертификации для компонентов, производимых AM, большая часть текущего использования AM ограничена несущественными приложениями в аэрокосмической промышленности [20].Для решения этих проблем производители и регулирующие авиационные органы все активнее работают над разработкой новых стандартов, отвечающих текущим возможностям AM [21]. Более того, следует отметить, что как академические учреждения, так и коммерческие компании создали свои собственные классификации AM-технологий из-за отсутствия таких унифицированных стандартов, что часто приводило к запутанной и противоречивой категоризации AM-процессов и номенклатур [22]. К настоящему времени разработан ряд стандартов в отношении металлических AM в целом; стандарты включают ISO / ASTM52900-15 относительно стандартной терминологии AM, ASTM F3122-14 относительно оценки механических свойств металлических деталей AM и ASTM F3049-14 относительно характеристики металлических порошков, используемых для процессов AM [1,23] .Однако лишь несколько стандартов и квалификаций были установлены в контексте применения металлических AM в аэрокосмической промышленности; Примеры включают MSFC-STD-3716 относительно космического оборудования, изготовленного методом термоядерного синтеза металла в лазерном порошковом слое (L-PBF), и SAE AS9100 относительно требований к системам управления качеством в авиационных, космических и оборонных организациях [1,23]. Поэтому по-прежнему требуются значительные усилия для полной интеграции стандартов для металлических AM и, в частности, для удовлетворения требований аэрокосмических приложений, которые в настоящее время впервые введены Национальным управлением по аэронавтике и исследованию космического пространства (НАСА) [1,23].Тем не менее, эти установленные стандарты особенно полезны для политиков и сообщества AM в целом и стали фундаментальными руководящими принципами при разработке дальнейших стандартов и квалификаций, ориентированных на аэрокосмическую промышленность. На сегодняшний день многие исследователи опубликовали обзорные статьи о состоянии дел. новейшие технологии металлообработки AM в широком контексте. Например, Фрейзер [24] рассмотрел различные категории металлических AM и сосредоточился на материаловедении, процессах, бизнесе и экологических проблемах, связанных с металлическими AM.Бейер [25] рассмотрел стратегические последствия широкого внедрения AM, в частности, в развитии правильного мышления среди инженеров и производителей, чтобы в полной мере использовать преимущества AM в различных промышленных приложениях, например, в машиностроении, автомобилестроении, авиакосмической промышленности, медицине и потребительском секторе. продукты. Кроме того, Seifi et al. [26,27] сосредоточили свои усилия на разработке стандартов для поддержки квалификации и сертификации металлических AM, особенно в отношении аспектов материалов, микроструктур и механических свойств.Кроме того, другие исследователи рассмотрели применение и будущий потенциал металлических AM в аэрокосмической промышленности. Например, Uriondo et al. [22] подробно описали использование металлического AM и моделирования материалов в производстве и ремонте аэрокосмических деталей и подчеркнули важность нормативно-правовой базы, летной годности и безопасности воздушного транспорта для этих двух целей. Аналогичным образом Liu et al. [17] подчеркнули преимущества металлических и неметаллических AM для производства и ремонта аэрокосмических приложений и обсудили будущий потенциал AM в аэрокосмической промышленности как с коммерческой, так и с академической точек зрения.Кинселла [28] объяснил, что, хотя технологии металлического AM не могут полностью заменить методы CM при изготовлении аэрокосмических компонентов, они могут предложить экономию затрат и производственные мощности для инновационных конструкций с использованием суперсплавов, таких как напыление из двух сплавов и функционально-сортированные материалы (FGM) для ВВС США (USAF) и Министерство обороны (DoD). Кроме того, Никелс [29] пришел к выводу, что нерешенные вопросы геометрической свободы, сокращения отходов, ограничений машин, энергопотребления и функциональной интеграции могут вызвать медленную адаптацию металлических AM для серийного производства в аэрокосмическом секторе.Однако аспекты стандартизации, цепочки поставок и устойчивости металлических AM в аэрокосмическом секторе почти не обсуждались. Следовательно, целью данной статьи является обзор текущих разработок, связанных с металлическим AM в современных аэрокосмических приложениях. Он также будет охватывать текущие вопросы стандартизации AM в аэрокосмической отрасли, цепочку поставок, соображения устойчивости и возможные будущие приложения.
4. Металлические материалы, используемые для AM в аэрокосмической промышленности
В последние годы обычные металлические материалы, используемые для изготовления компонентов для аэрокосмической промышленности, включают инструментальную сталь и нержавеющую сталь, титан, никель, алюминий и сплавы этих материалов [61 ].Другие металлы, такие как золото, платина и серебро, также используются в некоторых приложениях в аэрокосмической промышленности [24]. В частности, суперсплавы на основе никеля все чаще используются из-за их замечательных свойств при повышенных температурах, которые хорошо подходят для аэрокосмических компонентов, которые обычно работают в экстремальных условиях [62,63]. Кроме того, сплав Ti6Al4V получил широкое внимание в промышленности. в аэрокосмической промышленности из-за его комбинированных свойств высокой прочности и вязкости разрушения, а также низкой плотности вместе с низким коэффициентом теплового расширения [64,65,66].Кроме того, его высокая коррозионная стойкость привлекательна как вариант легкого материала для аэрокосмических конструкций [38]. В настоящее время стоимость и сложность обработки материала методами КМ являются значительными из-за высокого сродства КМ с промежуточными элементами при повышенных температурах. Следовательно, производители все чаще используют AM для производства титановых компонентов, поскольку AM предлагает огромную гибкость конструкции и обработки, резко сокращая производственные затраты и связанные с ними отходы материалов [64].До сих пор титановые сплавы (например, Ti6Al4V и TiAl) производились аддитивно для производства лопаток турбин для коммерческих самолетов из-за их хороших механических свойств при повышенных температурах [67,68]. По большинству оценок стоимость материала для AM составляет выше, чем у эквивалента CM, но оптимизированные процессы AM могут предложить более низкий коэффициент покупательной способности и возможности утилизации, что значительно снижает общие производственные затраты [56,69,70].7. Обсуждение
Основная цель этого обзора состояла в том, чтобы изучить текущее влияние применения металлических AM в аэрокосмической промышленности.На ранних этапах своего существования AM рассматривался в первую очередь как вариант прототипирования с ограниченным сервисным приложением. С годами развитие технологических возможностей позволило постепенно перейти к включению первичных продуктов. Эти успехи сопровождались экспоненциальным ростом доступной глобальной литературы по AM, патентных заявок и продаж AM как в академических кругах, так и в коммерческом секторе.
Поскольку воспроизводимость и постоянство механических свойств готовых деталей AM еще предстоит полностью понять, необходимы дальнейшие разработки в отношении обеспечения стандартов, сертификатов и протоколов проверки.В частности, мониторинг параметров процесса на месте и физическое моделирование последовательности печати (например, управление с обратной связью с обратной связью) помогли бы смягчить критические проблемы, такие как пористость газа и отсутствие плавления [200]. Кроме того, в области AM отсутствует доступная база данных материалов, а доступная разработка и стандартизация свойств металлических материалов (MMPDS) в основном ориентирована на методологии CM. Тем не менее, MMPDS, AIAA S-110-2005 и TR-RS-2014-00016 в настоящее время приняты во всем мире в качестве стандартов, используемых для сертификации аэрокосмических аппаратов, и их можно использовать для разработки будущих руководств для квалификаций AM [20].В результате многие лидеры отрасли и регулирующие органы, такие как ISO, ASTM, FAA, EASA и SAE, объединились для создания множества избранных комитетов, которые занимаются исключительно разработкой стандартов AM. до настоящего времени приложения были ограничены некритическими компонентами, например вторичными или избыточными структурами. Ожидается, что промышленное доверие, технологический потенциал и осведомленность будут продолжать расти, а приложения AM будут все больше переходить в более критически важные компоненты [201].Однако производители в настоящее время осторожно относятся к этому прыжку веры, потому что любые сбои в работе, вызванные дефектными или неисправными компонентами AM, могут привести к замедлению разработок. AM может быть трудным и дорогостоящим для интеграции в основную авиакосмическую промышленность, особенно для малых и средних OEM-производителей, которым не хватает возможностей для долгосрочных исследований и разработок (НИОКР) [202].В своем текущем состоянии AM все еще не может полностью обогнать CM, а скорее работать параллельно с CM, и в этом случае ожидается, что AM станет важным методом для производства сложных высококачественных компонентов.Поскольку система AM не требует инструментов, она более прибыльна, чем CM, для небольших объемов производства, поскольку стоимость инструментов часто составляет основную часть производственных затрат. Для больших объемов существующая инфраструктура CM позволяет серийное производство со значительно большей эффективностью по сравнению с AM. Однако для AM это не проблема, поскольку аэрокосмическая промышленность часто требует производства компонентов только в небольших или средних объемах.
Что касается поставки запасных частей для устаревших самолетов, компоненты AM можно сканировать и преобразовывать в 3D-модель САПР без необходимости получать оригинальные образцы и инструменты от производителей комплектного оборудования [203].Для поврежденных или изношенных компонентов методы DED AM показали многообещающие возможности восстановления исходных размеров компонентов, а также нанесения гетерогенных защитных покрытий для улучшения механических свойств, таких как усталостная долговечность. Хотя было показано, что DED дает впечатляющие результаты в отношении ремонта компонентов самолетов, его интеграция все еще отсутствует, хотя в ближайшие годы она может быть улучшена.Что касается собственного потребления энергии во время обработки металла AM, академические публикации склонны заключать, что даже несмотря на то, что процесс печати более энергоемкий, чем CM, огромная экономия энергии достигается при использовании в эксплуатации деталей, изготовленных из AM.Это связано со способностью AM уменьшать массу компонента за счет оптимизации и облегчения без ущерба для его механических свойств. Ожидается, что в течение срока службы компонентов эта оптимизация будет способствовать значительному сокращению выбросов CO 2 в результате снижения расхода топлива.
Что касается цепочки поставок аэрокосмической продукции, долгосрочные эффекты крупномасштабного структурирования, ориентированного на AM, еще предстоит увидеть, хотя большинство доступных работ оптимистично настроены в отношении масштабирования металлических AM в аэрокосмической промышленности.Однако в ближайшем будущем AM сможет упростить структурирование цепочки поставок, поскольку он сможет уменьшить зависимость поставщиков MRO от крупных запасов, поскольку изготовление AM по запросу становится все более реалистичным.
Долгосрочная перспектива металлического AM на ближайшие десятилетия дает представление о его использовании для производства в космосе (ISM), такого как, например, производство компонентов вне атмосферы в условиях микрогравитации. Основная предпосылка ISM заключается в том, что сырье в больших объемах может быть отправлено на орбиту, предлагая более высокие объемные доли полезной нагрузки, которые могут выдерживать большие перегрузки при всплытии по сравнению с более хрупкими сборными компонентами.В настоящее время для длительных космических полетов к планетам или астероидам в пределах Солнечной системы готовые детали для миссии должны запускаться с земли на орбиту, что означает, что возможны только ограниченные объемные доли полезной нагрузки и значительные геометрические ограничения для полезной нагрузки. конструкция должна быть соблюдена из-за ограничений по размерам на борту подъемных транспортных средств [204]. Для длительных миссий возможность изготовления компонентов по запросу обеспечивает повышенную самодостаточность и безопасность в процессе [205].Помимо длительных космических полетов, в недавних публикациях утверждается, что ISM может также использоваться при создании наноспутников и частей антенн, а также для ремонта структурных компонентов спутников [204]. Хотя в ближайшем будущем вряд ли они станут коммерчески жизнеспособными, разработки ISM в настоящее время продолжаются. Например, Международная космическая станция (МКС) использовалась в качестве испытательного стенда для неметаллических исследований AM в 2014 году, производя десятки деталей на основе акрилонитрил-бутадиен-стирола (АБС) для ремонта, модернизации и установки различных инфраструктур МКС на борту. [206,207].На сегодняшний день проведенные эксперименты предоставили ценную информацию о механических свойствах деталей AM, произведенных в условиях микрогравитации, при этом прямое сравнение компонентов AM в космосе и на земле показало небольшое расхождение между собой [208]. Более того, недавно на МКС был отправлен гибридный модуль AM, чтобы продемонстрировать возможность аддитивного производства новых компонентов из переработанного пластика, ранее созданного на борту МКС [209]. В случае успеха полученные знания помогут проложить путь к повышенной самодостаточности, которая может быть распространена на металлические AM в будущих расширенных космических исследованиях [210].Pho’liage ® | Art Build
[1]
ЕВРОПЕЙСКАЯ ОРГАНИЗАЦИЯ ПО СОЛНЕЧНОМУ ЗАМЕТАНИЮ, Энергосбережение и потенциал снижения выбросов СО2 от солнцезащитных систем и жалюзи в ЕС-25, 2006 г., получено с http://www.buildup.eu/sites/ по умолчанию / файлы / ESCORP-EU25_p2528.pdf.
[2]
М. Де Гроот, Дж. Вольт и Ф. Бин, Готова ли Европа к революции умных зданий? — Mapping Smart-Readiness и инновационные тематические исследования, Buildings Performance Institute Europe (BPIE), 2017, получено с http: // bpie.eu / wp-content / uploads / 2017/02 / STATUS-REPORT-Is-Europe-ready_FINAL_LR.pdf.
[3]
ЕВРОСТАТ, «Производство, потребление и обзор рынка электроэнергии: чистое производство электроэнергии, ЕС-28, 1990-2016», июль 2018 г., получено с https://ec.europa.eu/eurostat/statistics- объяснено / index.php / Производство электроэнергии, _потребление_и_маркет_обзор.
[4]
EUROSTAT, «Статистика электроэнергии и тепла: валовое производство электроэнергии по видам топлива, ГВт-ч, ЕС-28, 2000-2016 (nrg_105a)», июнь 2018 г., взято из https: // ec.europa.eu/eurostat/statistics-explained/index.php/Electricity_and_heat_statistics.
[5]
С. Вернер, «Европейские потребности в охлаждении космического пространства», Энергетика, 2016, вып. 110, No. C, pp. 148–156.
[6]
ODYSSEE-MURE, «Энергопотребление домашних хозяйств в зависимости от энергии в ЕС», получено с http://www.odyssee-mure.eu/publications/efficiency-by-sector/households/household-eu. pdf.
[7]
У. Перссон, С. Вернер, Stratego — Расширенные планы отопления и охлаждения: количественная оценка потребности в отоплении и охлаждении в Европе: Рабочий пакет 2 / Справочный отчет 4, Университет Хальмстада, 2015 г., получено из http: / / стратег-проект.eu / wp -…
[8]
С. Пеццутто, Р. Фазели, М. Де Феличе, В. Спарбер, «Будущее развитие рынка кондиционирования воздуха в Европе: перспективы до 2020 года», WIREs (Междисциплинарные обзоры Wiley): Энергия и окружающая среда, 2016, т. 5, № 6, 649–669. 8 –10 декабря 2013 г.
[10]
ЕВРОПЕЙСКАЯ КОМИССИЯ, «Вентиляционные установки: энергосбережение», по адресу https://ec.europa.eu/info/energy-climate-change-environment/standards-tools-and-labels/products- правила и требования маркировки / энергетическая маркировка и экодизайн / энергоэффективные продукты / вентиляционные устройства_en.
[11]
Дж. Аль Дахил, К. Табет Аул, «Создание приложений, возможности и проблемы активных систем затенения: современный обзор, Энергия, Том. 10, No. 1672, получено с https: // doi.org / 10.3390 / en10101672.
[12]
К. Чиленто, «Al Bahar Towers Responsive Façade / Aedas E. Anderheggen», ArchDaily, 5 сентября 2012 г., взято с https://www.archdaily.com/270592/al-bahar-towers- отзывчивый фасад-эдас.
[13]
С. Аттиа, «Оценка адаптивных фасадов: тематическое исследование башен Аль-Бахр в ОАЭ, QScience Connect: формирование устойчивой антропогенной среды Катара», Том 2017, № 2, февраль 2018 г., извлечено из http://dx.doi.org/10.5339/conn…
[14]
T. Winstanley, «AD Classics: Institut du Monde Arabe / Enrique Jan — Jean Nouvel — Architecture Studio», ArchDaily, 2 октября 2011 г., взято с https://www.archdaily.com/ 1621 …
[15]
Э. Пеликэн, Разработка адаптивного устройства затенения с использованием биомиметического подхода: модернизация южного фасада Института арабского мира, магистерская диссертация, Брюссельский инженерный факультет, Брюссельский университет (VUB 2018), получено с https: // www.scriptieprijs.be/scriptie/2018/development-adaptive-shading-device-using-biomimetic-approach.
[16]
А. Петерсен, «Машрабийя», Словарь исламской архитектуры, Routledge, 1996.
[17]
Flectofold впервые был выставлен в рамках выставки BauBionik с 17.10.2017 по 01.05.2018 по адресу: Музей естественной истории в Штутгарте, Германия, получено с https://www.itke.uni-stuttgart.de/archives/portfolio-type/flectofold.
[18]
Дж.Линхард, С. Шлейхер, С. Поппинга, Т. Масселтер, М. Милвич, Т. Спек и Дж. Книпперс, «Флектофин: бесшарнирный механизм хлопанья, вдохновленный природой», «Биоинспирация и биомиметика», Том 6, № 4, декабрь 2011, стр. 1-7, взято с http://iopscience.iop.org/1748-3190/6/4/045001.
[19]
«Air Flow (er) — это энергонезависимое термически активное вентиляционное устройство, которое ведет себя как цветок, чьи« лепестки »широко раскрываются при воздействии более высоких температур», — получено с http: // www.liftarchitects.com/air-flower/.
[20]
А. Фуруто, «Bloom / DO | SU Studio Architecture», ArchDaily, 11 марта 2012 г., взято с https://www.archdaily.com/215280/bloom-dosu-studio-architecture.
[21]
Метеочувствительный павильон Ахима Менгеса принадлежит постоянной коллекции Центра FRAC, расположенного в Орлеане (Франция), получено с http://www.achimmenges.net/?p=5612.
[22]
Ch. Дарвин, Сила движения растений, Д.Appleton and Company, Нью-Йорк, 1881, стр. 317-417.
[23]
Q. Guo, E. Dai, X. Han, S. Xie, E. Chao и Z. Chen, «Быстрое nastic движение растений и биоинспирированных структур», Vol. 12, Journal of the Royal Society Interface, 6 сентября 2015 г., взято с http://doi.org/10.1098/rsif.2015.0598.
[24]
I. Burgert, P. Fratzl, «Актуальные системы на заводах как прототипы для устройств с биоинспекцией», Philosophical Transactions of the Royal Society A: Mathematical, Physical and Engineering Sciences, 367, 28 апреля 2009 г., извлечено из http: // doi.org / 10.1098 / rsta.2009.0003.
[25]
Х. Модин, Адаптивные ограждающие конструкции, магистерская работа, кафедра гражданской и экологической инженерии, Технологический университет Чалмерса, Гетеборг (Швеция), 2014 г., взято из http: //publications.lib.chalmers. se / records / fulltext / 214574 / 214574.pdf.
[26]
Engineered Material Solutions (Wickeder Group), Руководство разработчика термостатических биметаллов, взято из https://www.emsclad.com/fileadmin/Data/Divisions/EMS/Header/Bimetal_Desingers_Guide.pdf.
[27]
A. Y. Вильярсо, Исследования движения и компенсации хронометров, Малле-Башелье, Париж, 1862 г. [1-е изд.].
[28]
W. G. van Doorn, Uulke van Meeteren, «Открытие и закрытие цветов: обзор», Journal of Experimental Botany, Vol. 54, No. 389, 1 августа 2003 г., стр. 1801-1812, взято с https://doi.org/10.1093/jxb/erg213.
[29]
Т. Ненов, «Разработка адаптивного устройства затемнения из термостатических биметаллических компонентов с использованием биомиметического подхода», Рабочие документы Biovoie, 2018.
[30]
М. Шачингер, «Индекс цен на модули», журнал PV, получено с https://www.pv-magazine.com/features/investors/module-price-index/.
[31]
Д. Л. Чендлер, Объяснение резкого падения стоимости солнечной энергии, MIT News, 20 ноября 2018 г., по адресу http://news.mit.edu/2018/explaining-dropping-solar-cost-1120.
[32]
М.